JR-CHY 薄膜瑕疵檢測(cè)儀
- 公司名稱 寧波市鄞州瑾瑞儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) JR-CHY
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/10/9 10:25:48
- 訪問次數(shù) 1789
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,建材,印刷包裝 |
項(xiàng)目背景
薄膜作為包裝材料的主要形式,,已經(jīng)成為工業(yè)產(chǎn)品*的原材料。在薄膜的生產(chǎn)過程中,,由于生產(chǎn)工藝及現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境等影響,,容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點(diǎn)、晶點(diǎn),、劃傷,、破洞、線條,、褶皺,、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產(chǎn)品的外觀,,更重要的是降低了薄膜的使用性能,。如何在生產(chǎn)過程中及時(shí)檢出薄膜表面的瑕疵缺陷,消除生產(chǎn)的根源,,實(shí)現(xiàn)控制和提高薄膜的表面質(zhì)量,,一直是薄膜企業(yè)追求的目標(biāo)。
現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)對(duì)薄膜表面的質(zhì)量提出越來越高的要求,,傳統(tǒng)的檢測(cè)方法如人工目視抽檢已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速,、高分辨率和無損只能檢測(cè)的要求,基于CCD的薄膜表面瑕疵檢測(cè)系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測(cè)相比,,具有快速,、可靠。準(zhǔn)確的優(yōu)點(diǎn),,目前已被許多薄膜企業(yè)所應(yīng)用,。
工作原理
生產(chǎn)線正常生產(chǎn)時(shí),高亮的LED線性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產(chǎn)線表面(對(duì)于不透明的薄膜產(chǎn)品采用反射的檢測(cè)原理),,架設(shè)在生產(chǎn)線上的線陣相機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)同步掃描,,同時(shí)系統(tǒng)將相機(jī)采集到的薄膜圖像通過SIMV圖像處理單元進(jìn)行瑕疵分割處理。
由于瑕疵圖像的灰階與正常產(chǎn)品的灰階存在明顯差異,,從而使系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵,,同時(shí)對(duì)瑕疵進(jìn)行有效的判定、分類,。
技術(shù)介紹
【薄膜表面檢測(cè)系統(tǒng)】主要用于檢測(cè)薄膜在生產(chǎn)過程中表面出現(xiàn)的黑點(diǎn),、晶點(diǎn)、劃傷,、破洞,、線條、褶皺,、蚊蟲等缺陷,,借助于由工業(yè)CCD相機(jī),、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測(cè)的成像系統(tǒng),及時(shí)準(zhǔn)確的反應(yīng)缺陷的的圖片,、形狀,、尺寸以及位置等具體信息,在為質(zhì)量控制,、產(chǎn)品評(píng)級(jí)提供真是準(zhǔn)確數(shù)據(jù)的同時(shí),,有效的節(jié)約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量,。
檢測(cè)對(duì)象 | 保護(hù)膜,、涂布膜、光學(xué)膜,、鋰電隔膜,、食品包裝膜 |
檢測(cè)幅寬 | 任意幅寬(根據(jù)生產(chǎn)線寬度進(jìn)行定制) |
檢測(cè)速度 | MAX:600m/min |
檢測(cè)精度 | 0.1mm*0.1mm |
缺陷類型 | 晶點(diǎn)、線條,、黑點(diǎn),、蚊蟲、孔洞,、劃傷等常見缺陷 |
測(cè)寬精度 | 產(chǎn)線無縱向偏移時(shí)誤差≤3mm |
缺陷標(biāo)識(shí) | 自動(dòng)聲光報(bào)警,,同時(shí)在系統(tǒng)界面顯示當(dāng)前缺陷的具體圖像及信息 |
歷史記錄 | 記錄每一卷薄膜缺陷的總數(shù),分布的位置,、大小,、面積等信息 |
常見瑕疵圖片