ZK-PCT-35L 高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test
- 公司名稱 依諾檢測設(shè)備(東莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ZK-PCT-35L
- 產(chǎn)地 廣東省東莞市橋頭鎮(zhèn)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/7/18 16:47:24
- 訪問次數(shù) 763
聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!
濕熱試驗(yàn)箱,,溫度循環(huán)試驗(yàn)箱,冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱,,溫度沖擊試驗(yàn)箱,,快速溫度變化試驗(yàn)機(jī),防爆型高低溫試驗(yàn)箱,,溫度濕度低氣壓試驗(yàn)箱,,步入式環(huán)境試驗(yàn)箱,萬能材料拉力試驗(yàn)機(jī),,電動式高頻振動試驗(yàn)臺,。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
---|
高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test概述
Pressure Cook Test專業(yè)制造商與供應(yīng)商。PCT所激發(fā)對IC芯片封裝,、半導(dǎo)體元器件,、集成電路、PCB板等故障模態(tài)與HAST類似,。二者提供的AF相差無幾,,一般應(yīng)用130℃,100%RH,,Static bias,,15PSIG(2 atm),168hou或96hous的試驗(yàn)條件引起封裝焊線拉起,、芯片基座粘附性差,、界面剝離、焊接基座的腐蝕,、金屬化合或是引線開路等,。是評估IC產(chǎn)品在高溫,高濕,,高氣壓條件下對濕度的抵抗能力,,加速其失效過程的可靠性測試設(shè)備。
高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test技術(shù)參數(shù)
型 號: | ZK-PCT-25L | ZK-PCT-35L | ZK-PCT-45L | ZK-PCT-65L |
內(nèi)部尺寸(W×H×D)mm: | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ600×650 |
外箱尺寸(W×H×D)mm: | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
使用溫度: | 121℃,;132℃,;(143℃特殊選用) | |||
使用濕度: | 100%RH飽和蒸氣濕度 | |||
使用蒸氣壓力(壓力): | 1個環(huán)境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2屬于特殊規(guī)格) | |||
循環(huán)方式: | 水蒸氣自然對流循環(huán) | |||
安全保護(hù)裝置: | 缺水保護(hù),,超壓保護(hù),、 (具有自動/手動補(bǔ)水功能,自動瀉壓功能) | |||
配 件: | 不銹鋼隔板兩層 | |||
電 源: | AC220V,,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz |
高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.IEC60068-2-66,。
2.JESD22-A102-B。
3.EIAJED4701,。
4.EIA/JESD22,。
5.JESD22-A102
6.EIAJED- 4701-B123
相關(guān)分類
- 高低溫試驗(yàn)箱
- 交變試驗(yàn)箱
- 高低溫交變試驗(yàn)箱
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 臭氧老化試驗(yàn)箱
- 三綜合試驗(yàn)箱
- 霉菌試驗(yàn)箱
- 砂塵試驗(yàn)箱
- 鹽霧試驗(yàn)箱/鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
- 步入式試驗(yàn)箱/步入式實(shí)驗(yàn)室
- 高溫老化試驗(yàn)箱/熱老化試驗(yàn)箱
- 紫外老化試驗(yàn)箱/耐候試驗(yàn)箱
- 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
- 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱/老化試驗(yàn)箱
- 玻璃測試機(jī)/玻璃試驗(yàn)設(shè)備
- 低溫箱,、低溫試驗(yàn)箱
- 箱式淋雨試驗(yàn)箱
- 滴水式試驗(yàn)裝置
- 淋雨試驗(yàn)裝置
- 溫變試驗(yàn)箱
- 其它試驗(yàn)箱