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LX-Z240 光伏組件隱裂EL測(cè)試儀
| 參考價(jià) | ￥ 160000 |
| 訂貨量 | ≥1 臺(tái) |
- 公司名稱(chēng) 蘇州萊科斯新能源有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) LX-Z240
- 產(chǎn)地 蘇州
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/7/9 18:59:24
- 訪問(wèn)次數(shù) 505
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EL檢測(cè)儀，光伏EL測(cè)試儀,，無(wú)人機(jī)熱成像檢測(cè),，便捷式EL測(cè)試儀，光伏無(wú)人機(jī)EL檢測(cè)儀,，光伏電站EL測(cè)試儀,，太陽(yáng)能板EL檢測(cè)儀
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 |
|---|
光伏組件安裝質(zhì)量控制是對(duì)光伏組件卸車(chē)、倒運(yùn),、安裝全過(guò)程的管控,，通過(guò)科學(xué)的管理有效降低組件人為損壞概率，減少隱裂發(fā)生的風(fēng)險(xiǎn),。
隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋,，電池片組件的隱裂會(huì)加速電池片功率衰減,，影響組件的正常使用壽命，同時(shí)電池片的隱裂會(huì)在機(jī)械載荷下擴(kuò)大,，有可能導(dǎo)致開(kāi)路性破壞,，隱裂還可能會(huì)導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。
隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的,，組件受力不均勻,，或在運(yùn)輸、倒運(yùn)過(guò)程中劇烈的抖動(dòng)都有可能造成電池片的隱裂,。光伏組件在出廠前會(huì)進(jìn)行EL成像檢測(cè),，所使用的儀器為光伏組件隱裂EL測(cè)試儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理,，利用高分辨率的CCD相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像,，獲取并判定組件的缺陷。能夠檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂,、碎片,、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象,。
光伏組件隱裂EL測(cè)試儀參數(shù)規(guī)格
參數(shù)配置 Product configuration
名稱(chēng) | 參數(shù) | ||||
檢測(cè)對(duì)象 | 單晶組件 | 多晶組件 | 雙玻組件 | 薄膜組件 | |
檢測(cè)范圍 | 隱裂 | 斷柵 | 碎片 | 破片 | |
燒結(jié)網(wǎng)紋 | 工藝污染 | 黑芯 | 黑邊 | ||
虛焊 | 邊緣過(guò)刻 | 衰減 | 混檔 | ||
低效率片 | PID | 熱斑衰減 | 崩邊缺角.等 | ||
光 學(xué) 檢 測(cè) 模 塊 | 分辨率 | 2476萬(wàn)像素 | |||
芯片 | 工業(yè)級(jí) CMOS | ||||
對(duì)焦方式 | 全時(shí)平面自動(dòng)對(duì)焦（0秒）達(dá)到免對(duì)焦能力 | ||||
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 內(nèi)存卡/平板/電腦，主機(jī)檢測(cè)圖片可自動(dòng)轉(zhuǎn)移至U盤(pán)或硬盤(pán)內(nèi) | ||||
檢測(cè)速度 | 0.01~45S（可調(diào)節(jié)） | ||||
檢測(cè)精度 | 0.1 mm/pixel | ||||
紅外鏡頭 | 可實(shí)現(xiàn)0.7mm以上精度要求測(cè)試 | ||||
無(wú)線(xiàn)模塊 | 內(nèi)置2.4G基礎(chǔ)WIFI,；配備官紡APP軟件 外置2.4G加強(qiáng)wifi ,；150米無(wú)線(xiàn)傳輸范圍；配備專(zhuān)屬APP軟件外置5G 高速wifi,；200米傳輸范圍,；抗電磁干擾，原圖高速傳輸,，具備兩臺(tái)ipad同步連接操作檢測(cè),；配置專(zhuān)屬APP軟件 | ||||
顯示屏 | 103.68萬(wàn)像素液晶屏（觸摸屏/旋轉(zhuǎn)屏 ） | ||||
同步檢測(cè) | 可同時(shí)完成1~4塊電池組件的高清EL檢測(cè) | ||||
檢測(cè)方式 | 移動(dòng)端：平板 / 手機(jī) （wifi無(wú)線(xiàn)操作） 電腦端：連線(xiàn)掃碼檢測(cè)（條碼錄入及統(tǒng)計(jì)修正） 相機(jī)端：手持式檢測(cè)（屏幕觸屏查看） | ||||
光學(xué)屏蔽 | 光線(xiàn)：燈光/月光/星光/凌晨傍晚低輻照度太陽(yáng)光對(duì)測(cè)試無(wú)影響 時(shí)間：300輻照度以上需暗室檢測(cè)，300輻照度以下可直接測(cè)試 | ||||
測(cè)試參數(shù) | 高電流測(cè)試/弱電流測(cè)試 | ||||
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