納米粒度測量——優(yōu)良的動態(tài)光背散射技術(shù)

Zeta電位測量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究,，開發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術(shù),，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿,，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù),。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，NANOTRAC WAVE II采用優(yōu)良的“Y”型光纖探針光路設(shè)計,，配置膜電極產(chǎn)生微電場,，操作簡單，測量迅速,，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,，*消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失,，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異,，分散介質(zhì)的影響,，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠,，重現(xiàn)性好,。

測量原理：

粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量：膜電極設(shè)計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量：水力直徑或德拜曲線

光學(xué)系統(tǒng)：

3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器,，通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,，無需校正光路

軟件系統(tǒng)：

優(yōu)良的FLEX軟件提供強大的數(shù)據(jù)處理能力,，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入,，個性化輸出報告,，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù),，Microsoft Access格式（OLE）等,。體積，數(shù)量,，面積及光強分布,，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,，包括口令保護,，電子簽名和指定授權(quán)等。

外部環(huán)境：

電源要求：90-240VAC,，5A,，50/60Hz

環(huán)境要求：溫度，10-35°C

國際標(biāo)準(zhǔn)：符合ISO13321,，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點：

• 采用優(yōu)良的動態(tài)光散射技術(shù),，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法

• “Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍(lán)寶石測量窗口,，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,，在加載電流的情況下，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場,，測量同一體系的Zeta電位,， 避免樣品交叉污染與濃度變化。

• 異相多譜勒頻移技術(shù),，較之傳統(tǒng)的方法,，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性,。

• 可控參比方法（CRM）,，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度,。

• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。

• 快速傅利葉變換算法（FFT,，F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,，縮短分析時間。

• 膜電極設(shè)計,，避免產(chǎn)生熱效應(yīng),，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。

• 無需比色皿,，毛細(xì)管電泳池或外加電極池,，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果

• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染,，分散介質(zhì)的影響,，多重散射的衰減等，提高靈敏度,。