華測高溫四探針測試儀器 居里溫度
- 公司名稱 北京華測試驗儀器有限公司
- 品牌 HUACE/北京華測
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/6/12 17:17:21
- 訪問次數(shù) 1851
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功能材料電學綜合測試系統(tǒng),、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀,、極化裝置與電源,、高壓放大器、PVDV薄膜極化,、高低溫冷熱臺,、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺,、電擊穿強度試驗儀,、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀,、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統(tǒng),、壓電傳感器測控系統(tǒng),。
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,電氣,綜合 | 重量 | 30kg |
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高儀器-高溫四探針測試儀
一、產(chǎn)品簡介
華測高溫四探針測試儀器 居里溫度采用四探針雙電測量方法,,適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門,,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫,、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料,。液晶顯示,,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,。采用芯片控制,,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),,自動生成報表,;本儀器可顯示電阻、電阻率,、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度、電導率,,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求,。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量,。利用電流探針,、電壓探針的變換,進行兩次電測量,,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,,它與單電測直線或方形四探針相比,,大,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學研究等用途,。
HGTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,,具備彈性的自定義功能,可進行電壓,、電流,、溫度、時間等設(shè)置,,符合導體,、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
二,、華測高溫四探針測試儀器 居里溫度產(chǎn)品特點
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫,。同時爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,,可實現(xiàn)快速冷卻,。
溫度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式),。此外,,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。
不同環(huán)境下的加熱與冷卻加熱/冷卻
可用真空,、氣氛環(huán)境,、低溫(高純度惰性氣體,,靜態(tài)或流動),操作簡單,,使用石英玻璃制成,。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
三,、功能特點
1. 多功能真空加熱爐,,一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn),、高溫,、真空、氣氛環(huán)境下進行測試
2. 采用鉑材料作為導線,、以減少信號衰減,、提高測試精度;
3. 可以測量半導體薄膜材,、薄片材料的方塊電阻,、電阻率;
4. 可實現(xiàn)常溫,、變溫,、恒溫條件的1-V、R-T,、R-t等測量功能;
5. 溫度傳感器,、PID自動溫度控制,,使測量溫度準;
6. 儀器可自動計算試樣的電阻率pV,;
7. 10寸觸摸屏設(shè)計,,一體化設(shè)計機械結(jié)構(gòu),穩(wěn)定,、可靠,;
8. 程控電子升壓技術(shù),紋波低,、TVS防護系統(tǒng),,保證儀器an全性;
9. 99氧化鋁陶瓷絕緣,、碳化鎢探針,;
10. Ihuace pro控制分析軟件。
四,、軟件功能
HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro,,采用labview系統(tǒng)開發(fā),,符合高分子材料的各項測試需求,具備的穩(wěn)定性與an全性,,并具備斷電資料的保存功能,,圖像資料可保存恢復(fù)。兼容,,XP,、win7、win10系統(tǒng),。
多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面,;
即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無須等待,;
圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài),;
使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,,方便管理;
故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報警功能,。
五,、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
1、整體為桌面型設(shè)計,,采用紅外燈加熱,,無保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿足實驗室無灰塵排放的要求,。
2,、內(nèi)置工控機、觸摸屏,,可以利用工控機設(shè)定加熱曲線,,并實現(xiàn)和其 他測試設(shè)備的集成控
3、定點控溫模式下,,可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度,。
4、控溫加熱下,,可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度,。
5、在1000度下可以連續(xù)工作時間不低于1小時,。
6,、采用鉑熱電偶直接測定樣品附近溫度。
7、樣品可以工作在大氣,、真空,、氣氛環(huán)境下加熱,。
8,、配備真空泵,,水冷設(shè)備,,配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置,。
9、溫度均勻區(qū):60mm*100mm。
六,、試驗
七,、產(chǎn)品應(yīng)用
八,、技術(shù)指標
溫度范圍 | 室溫-1200℃,(反射爐加溫)配水冷機) |
控溫精度 | ±0.5℃ |
測量精度 | ±0.25℃ |
升溫斜率 | 800℃/min(可10秒達800度) |
降溫斜率 | 1-200℃/min(可自調(diào)整) |
測量精度 | 0.5% |
樣品規(guī)格 | 直徑:20mm以內(nèi);厚度:5mm以內(nèi) |
電極材料 | 鉑金 |
測量方式 | 2線-4線測量方式 |
供電 | 220V±10%,,50Hz |
工作環(huán)境 | 0℃-55℃ |
存儲條件 | -40℃-70℃ |
尺寸 | 750mmX660mmX360mm |
重量 | 25kg |
高溫四探針測試儀器
高溫四探針測試儀器