Line--scan 線掃描膜厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
品牌 OTSUKA/日本大塚
型號 Line--scan
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2020/6/12 16:24:06
訪問次數(shù) 1846

產(chǎn)品標簽

在線測厚膜厚測量厚度測試

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公司介紹 主營產(chǎn)品

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價·檢查的裝置,。其裝置用于在LED,、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器,、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相關(guān)材料的光學特性評價·檢查,。

　　以高速·高精度·高可靠性且有市場實際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ)，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例,，為許多廠家在研究開發(fā),、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明相關(guān)方面,，對研究機構(gòu),、各個廠家的銷售量在逐步擴大。

　　在中國的蘇州有設(shè)立售后服務(wù)點,，為了能迅速且周到的為顧客服務(wù)而努力,。

　　我公司的母公司日本大塚電子集團，隸屬于大冢集團,，一直以來都謹守大冢集團的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品),，不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品，面向開展業(yè)務(wù)，為社會作出貢獻,。

展開

zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),，晶圓在線測厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀,，顯微分光膜厚儀,，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀,，相位差膜?光學材料檢測設(shè)備,，非接觸光學膜厚儀，小角激光散射儀,，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),，量子效率測量系統(tǒng)

詳細信息 在線詢價

產(chǎn)地類別	進口	價格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,電子,印刷包裝,電氣

線掃描膜厚儀可在線檢查整面寬幅薄膜，適用于生產(chǎn),。不受偏差的影響,，高速測量，時間間隔僅10豪秒,。

線掃描膜厚儀特點

采用線掃描方式檢測整面薄膜
硬件·軟件均為創(chuàng)新設(shè)計
作為專業(yè)膜厚測定廠商,，提供多種支援
實現(xiàn)高精度測量
實現(xiàn)高速測量
不受偏差影響
可對應(yīng)寬幅樣品（TD方向大可測量10m）

式樣

測量項目	膜厚（FFT)
位置分解能	1mm
測量寬幅	500mm
波長范圍	400~920nm
各單元的波長寬幅	約0.6nm
膜厚測量范圍	2~250μm
測量間隔	10msec~