J200 LA-LIBS 激光剝蝕—激光誘導擊穿光譜復合系統(tǒng)
- 公司名稱 北京富爾邦科技發(fā)展有限責任公司
- 品牌 美國Applied Spectra
- 型號 J200 LA-LIBS
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/3/5 9:41:58
- 訪問次數(shù) 4292
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應用領(lǐng)域 | 化工,石油,地礦,能源,航空航天 |
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一,、簡介
Russo博士于2004年創(chuàng)建了美國應用光譜(Applied Spectra,,ASI)公司, ASI公司是一家專門研究激光剝蝕及光譜分析技術(shù)的高科技公司,,研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室(Lawrence Berkeley National Laboratory)的科研人員,。美國勞倫斯伯克利國家實驗室具有80多年LIBS技術(shù)的研究經(jīng)驗,,致力于激光誘導等離子體光譜和剝蝕技術(shù)在化學分析領(lǐng)域的應用和開發(fā)。
*技術(shù)能夠?qū)⒓す鈩兾g與激光誘導擊穿光譜相結(jié)合,,實現(xiàn)了LIBS與LA-ICP-MS的同時檢測,。該系統(tǒng)可與市面上的普通四極桿質(zhì)譜儀、飛行時間質(zhì)譜儀和多接收質(zhì)譜儀等常見質(zhì)譜儀聯(lián)用,。
二,、技術(shù)優(yōu)勢:
- Q開關(guān),短脈沖Nd:YAG激光器,,擁有各種不同波長,、不同能量的飛秒或納秒激光器,可根據(jù)您的實際應用需求進行選購,;
- 創(chuàng)新的模塊化系統(tǒng)為獨立的LA,LIBS,,或LA–LIBS復合系統(tǒng)的配置設計,;
- 滿足不同分析要求的三種LIBS檢測器選項,LIBS可配置雙檢測器,;
- 系統(tǒng)傳感器,,確保激光剝蝕一致性:
- 高度自動調(diào)整技術(shù)
- 激光能量穩(wěn)定快門
- 雙攝像機,一個于高倍成像,,另一個用于樣品表面的廣角觀察,;
- 應用光譜Flex樣品室?guī)в锌苫Q鑲嵌模塊,以優(yōu)化運輸氣體流量和顆粒沖刷性能,;
- 緊湊型微集氣管設計,,以消除脫氣和記憶效應;
- 雙路高精度數(shù)字質(zhì)量流量控制器和電子控制閥門,;
- 系統(tǒng)軟件:
- 硬件部件的全面控制與測量自動化
- 多功能取樣方法:全分析,、微區(qū)&夾雜物分析,深度分析和元素成像
- 用于LIBS和LA-ICP-MS分析的強大數(shù)據(jù)分析模塊
- 用于判別和分類分析的LIBS化學計量軟件
- 維護成本低,;
- 升級為LA-LIBS復合系統(tǒng)簡單,;
- 可升級為飛秒激光剝蝕;
三,、硬件特點:
針對雙重LA/LIBS性能而設計的緊湊,、模塊化系統(tǒng)
主體包括激光源、激光束傳輸光學器件,、Flex樣品室,、氣體流量控制系統(tǒng)以及LIBS檢測器。
自動調(diào)整樣品高度,,保證激光剝蝕的一致性
考慮到樣品表面的形態(tài)變化,,采用自動調(diào)高傳感器,。可保持精確的激光聚焦,,在所有采樣點上提供相同的激光能量,,并在所有采樣點上實現(xiàn)一致的激光剝蝕。
具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室,,以優(yōu)化氣流和微粒沖洗性能
根據(jù)測量目的(主要成分分析,、包裹體分析、高分辨率深度分析,、元素成像等),,有必要對樣品室的各個性能指標進行優(yōu)化,指標包括:沖洗時間,、顆?;旌稀悠肥覂?nèi)的流動特性,。Flex樣品室的設計能夠容納直徑為4英寸的樣品,,使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調(diào)節(jié)氣流條件(層流和紊流)和微粒沖洗時間。此外,,F(xiàn)lex樣品室的設計是為等離子體光提供一個好的視角,,從而保證在激光剝蝕過程中進行靈敏的LIBS檢測。
創(chuàng)新集氣管設計
采用先進的集氣管設計,,大限度地減少了脫氣,,防止了任何燒蝕顆粒的堆積,并消除記憶效應,。容易組裝,,便于定期清潔輸氣管道。
高精度氣體流量控制系統(tǒng)
氣體控制系統(tǒng)使用兩個高精度,、數(shù)字化質(zhì)量流量控制器(MFC)和電子控制閥,,用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送,,并精確控制氣流,,防止等離子體火焰熄滅。預設配置可以選擇輸送氬氣,、氦氣或補充氣體,。
氣體流量控制系統(tǒng)
通過雙攝像頭和先進照明實現(xiàn)樣品可視化
擁有先進照明系統(tǒng)和高倍光學變焦(高達60X)功能,清晰呈現(xiàn)樣品的表面細節(jié),。配備雙高分辨率CMOS成像攝像機,,提供廣角視野和高倍成像,以精確地研究精細區(qū)域(見下圖)。廣角視野視圖可以保存,,并用于定位不同的樣品位置,,使用高倍鏡研究樣品。
具有三種獨立的照明模式,,提高圖像質(zhì)量和對比度:擴散式LED光源,,透射光和同軸反射光,光的強度和顏色可控。
清晰,、高倍放大的樣品表面圖像
同軸光線不同顏色和強度下的樣本圖像對比
三種LIBS檢測器可選,,擴展了儀器功能
三種不同LIBS檢測器可選:(1)帶有ICCD攝像機的掃描Czerny Turner光譜儀;(2) 配備ICCD攝像機的中階梯光柵光譜儀,;(3)同步六通道CCD光譜儀,。做為獨立的LIBS儀器系統(tǒng),可同時配備任意兩種檢測器,。雙檢測器開辟了新的LIBS檢測功能,。
四、軟件特點
直觀的圖形用戶界面(GUI)和強大的數(shù)據(jù)分析技術(shù)
Axiom LA具有非常直觀,、用戶友好的界面,,可瀏覽不同的樣品區(qū)域,并建立靈活的激光采樣方案,。Axiom LA集成了一個強大的數(shù)據(jù)分析模塊,用于高效分析LIBS光譜和時間分辨ICP-MS信號,。
輕松地創(chuàng)建復雜的激光取樣模式
Axiom LA有一個大窗口,,清晰、詳細的顯示樣品圖像,。分析人員可以在樣品圖像上編輯任意的激光采樣模式,,包括直線、曲線,、隨機點,、網(wǎng)格點和預先編輯的任意圖案。即使是復雜形狀的采樣區(qū)域也可以用圖案生成工具突出顯示,,并精確地分析元素或同位素含量,。
使用Axiom LA生成采樣模式并創(chuàng)建檢測自動化的方案
針對復雜LIBS光譜的強大數(shù)據(jù)分析工具
Clarity分析軟件具有強大LIBS數(shù)據(jù)分析工具。TruLIBS™,,是應用光譜公司專有的數(shù)據(jù)庫,,是從真實的LIBS等離子體中獲得,能夠快速,、準確地識別復雜LIBS發(fā)射峰,。特定的搜索標準(波長范圍、元素組、等離子體激發(fā)狀態(tài))可以用來在短時間內(nèi)縮小搜索范圍,。TruLIBS™允許用戶從軟件直接加載實驗庫LIBS光譜來識別和標記峰值,。
基本光譜分析工具(如連續(xù)背景扣除、峰面積積分和重疊光譜曲線擬合)有助于分析人員有效地處理LIBS峰值并獲得定量結(jié)果,。分析人員可監(jiān)測多次激光脈沖采樣期間LIBS的強度或不同分析物比例的統(tǒng)計數(shù)據(jù),。可以同時處理單個LIBS譜圖,,從而大大縮短數(shù)據(jù)分析時間,。
整個光譜的連續(xù)背景扣除
自動峰面積積分
曲線擬合的重疊峰
從時間解析的ICP-MS信號到完整的定量結(jié)果
Clarity軟件是ICP-MS數(shù)據(jù)管理和分析工具,分析者可以選擇感興趣的同位素并顯示它們的時間分辨ICP-MS信號以進行比較分析,,可以輕松地估計集成強度和RSD值,。同時,時間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢,,并且可以輕而易舉地獲得TRSD(時間相對標準偏差)統(tǒng)計學數(shù)值,。
上圖:在時間分辨ICP-MS信號中選擇感興趣的同位素比較顯示和定義時間集成范圍
右圖:用于TRSD評估的平滑的時間分辨ICP-MS信號
質(zhì)譜和LIBS光譜的產(chǎn)生
通過計算同位素ICP-MS強度,Clarity復合系統(tǒng)分析軟件根據(jù)微量元素信息生成代表樣品化學指紋的質(zhì)譜圖,。LIBS光譜根據(jù)主要和次要元素提供特征信息,。
Clarity復合系統(tǒng)分析軟件可借助LIBS光譜和質(zhì)譜,提供關(guān)于主要,、次要和微量元素全面的化學信息,。
玻璃樣品的寬LIBS光譜
Clarity復合系統(tǒng)分析軟件檢測同位素時所產(chǎn)生的質(zhì)譜
用于定量分析的功能強大的校準模型
使用Clarity復合系統(tǒng)分析軟件,分析人員可應用單變量或多變量校準模型進行準確的定量分析,。 另外,,它使用完整的或特定范圍的LIBS光譜、質(zhì)譜圖,,分析人員可創(chuàng)建譜庫,,構(gòu)建有效、多元的校準模型,,以準確檢測未知樣品的元素濃度,。
玻璃樣品的LA-ICP-MS Li元素校準曲線
有效的數(shù)據(jù)可視化和樣品分類
復合系統(tǒng)軟件允許分析人員執(zhí)行主成分分析(PCA),并可觀察從樣品中收集到的一組LIBS光譜和質(zhì)譜之間的差異,。同時,,該軟件提供名為“光譜學習”(Spectralearn)的可選軟件模塊。 基于偏小二乘法判別分析(PLS-DA),,“光譜學習”模塊將LIBS光譜和質(zhì)譜作為樣品的特征譜圖儲存在譜圖庫中,。 獲得的任何有疑問的物質(zhì)譜圖都可以與譜圖庫進行匹配,以獲得高度有效的樣品ID,。
10個BAS鋼標樣的PCA可視圖(401至410)
使用DepthTracker™元素的快速深度剖析
在固定點重復激光采樣,,Clarity LIBS分析軟件中的DepthTracker™能瞬時監(jiān)測所選元素的LIBS發(fā)射峰值強度,,揭示不同樣品深度處元素組成的變化。
DepthTracker™對于確定樣品表面的污染物,、執(zhí)行涂層分析,、了解薄膜結(jié)構(gòu)以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能。
結(jié)構(gòu)薄膜的深度剖面
功能強大的2D/3D元素制圖
Clarity復合系統(tǒng)分析軟件提供了一個集成制圖模塊,,可將LIBS強度和時間分辨的ICP-MS信號轉(zhuǎn)換為選定元素的非常詳細的2D/3D圖,。能夠?qū)⒄麄€周期表中的所有元素從ppb到%的濃度范圍可視化。
名片上印刷油墨的2D圖(LIBS檢測C,、H,,LA-ICP-MS檢測Mg, Al, Ti, Sr)