一、設(shè)備用途：

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的作用是提供高溫,、低溫、恒溫,、恒濕,、交變濕熱等試驗(yàn)環(huán)境，并滿(mǎn)足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)箱的要求,，主要適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn),、溫濕度變化或劇變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn);特別適用于進(jìn)行電子,、電工產(chǎn)品的環(huán)境模擬溫濕度試驗(yàn),。

二,、特點(diǎn)：

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱系統(tǒng)利用*的環(huán)境模式技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造,，產(chǎn)品達(dá)到國(guó)內(nèi)*水平。

采用能量調(diào)節(jié)技術(shù),、節(jié)能設(shè)計(jì),、密封性好、高強(qiáng)度,、易清洗,，符合審美觀的標(biāo)準(zhǔn)化整體式結(jié)構(gòu)箱體;

具有操作簡(jiǎn)便、控制系統(tǒng)自動(dòng)化程度高,、系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定,、*運(yùn)行時(shí)間長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。

三,、主要型號(hào)尺寸及技術(shù)參數(shù)：

四、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):

GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變?cè)囼?yàn)方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》
GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》;
GB2423.4  試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》