1024通道

器件測試圖例：

集成電路測試截圖：

可以放大觀看單個管腳PIN

英國abi-SWA1024集成電路測試儀測試通道：

二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路

二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道：1024路

三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路

設(shè)備可以64通道為步進(jìn)大擴充到2048組測試通道

英國abi-SWA1024集成電路測試儀功能用途：

1）集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測,；

2）可用于集成電路,、元器件研發(fā)測試；三維立體動態(tài)阻抗測試,；

3）快速篩選**、仿制集成電路及元器件,；

4）對不良器件進(jìn)行三維動態(tài)阻抗失效分析；

5）非加電條件下對集成電路,、電路板進(jìn)行全面的端口動態(tài)阻抗測試分析,；

6）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳,；

7）測試安全可靠,，全面解決器件工藝、電路板工藝問題,，快速解決集成電路及電路板故障點定位問題,；

8）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測；

9）專業(yè)操作管理平臺：可根據(jù)需求編輯測試流程程序,，完成自定義化測試,，軟件管理平臺兼容其他廠商設(shè)備。測試流程的制定貫穿整個測試過程,，使集成電路,、電路測試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程）,。保證了測試工藝的一致性,，排除人為因素的干擾。使測試簡單,、容易,、標(biāo)準(zhǔn)化。

技術(shù)規(guī)格：

二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路

二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道：1024路

三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路

設(shè)備可以64通道為步進(jìn)大擴充到2048組測試通道

實時探筆對比測試通道：4路

同步脈沖信號：4路

測試電壓范圍：2 V ～ 50 Vp-p,；

顯示圖形模式：V-I,、V-T、V-I-F,、V-T-F,；

信號電流范圍： 1 μA to 150 mA

測試阻抗范圍 : 100Ω ～ 1MΩ；

三維立體V-I-F測量方式：掃頻,；

同步脈沖輸出模式：單脈沖,、雙脈沖、三脈沖,、四脈沖,；

同步信號振幅:可調(diào)式由 +10 V ~- 10V；

主要優(yōu)勢：

1）提供軟件開發(fā)平臺,，兼容其他廠商測試設(shè)備,；

2）*的V-T模式可測量器件的開關(guān)時間特性（配合同步脈沖）,；可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試,?？蓽y試三段期間開關(guān)時間特性。

3）動態(tài)阻抗分析功能,，可以對三維圖形進(jìn)行參數(shù)的測量,；

4）變頻或掃頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線,，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障,。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或集成電路。

5）非加電條件下靜態(tài)診斷集成電路, 不必外加電源即可進(jìn)行測試,。測試更安全：矩陣式掃頻測試,，脈沖輸出進(jìn)行的動態(tài)V/T測試。