SU3800 日立掃描電子顯微鏡
參考價(jià) | ¥ 17 |
訂貨量 | ≥1 臺(tái) |
- 公司名稱 相確精密儀器(上海)有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號(hào) SU3800
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/4/5 16:37:23
- 訪問(wèn)次數(shù) 3280
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清潔度清洗設(shè)備,、清潔度分析系統(tǒng),、金相制樣設(shè)備、金相顯微鏡,、白車身破解,、焊接質(zhì)量檢測(cè)等
價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-150萬(wàn) | 儀器種類 | 冷場(chǎng)發(fā)射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣 |
日立掃描電子顯微鏡(SU3800)沿用了已 經(jīng)經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的GU I界面。另外還搭 載了*的SEM MAP, 而且相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)提供超大視野導(dǎo)航,,為操作人員提供更加貼心順暢的操作體驗(yàn),。
配備了多功能超大樣品倉(cāng),可以搭載多種 配件,。而且也適用于直徑 20 0 m m {SU3 800 ),、可升級(jí)為直徑30 0 m m {SU 390 0)的大型樣品。
全更換樣品
通過(guò)更換樣品提示,,可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品,。
自動(dòng)調(diào)整
通過(guò)自動(dòng)啟動(dòng)功能和自動(dòng)光軸調(diào)節(jié)功能, 可以快速觀察,。
廣角相機(jī)導(dǎo)航x
廣角相機(jī)導(dǎo)航覆蓋了大觀測(cè)區(qū)的整個(gè)區(qū)域,。
SEM MAP
您可以順利找到目標(biāo)觀察物。
分析解決方案
除了—體化集成 EDS 功能氣以外,,還可與其他設(shè)備和軟件聯(lián)用,。
Report Creator
可以將SEM /EDS/ SEM MAP 圖像統(tǒng)一任意布局,,根據(jù)需求個(gè)性化輸出報(bào)告。
超多選配項(xiàng)
標(biāo)配超大多功能樣品 倉(cāng),??芍С?/span>In -Si t u 分析。
· 通過(guò)鼠標(biāo)操作,,可實(shí)現(xiàn)直觀的視野移動(dòng)
通過(guò)點(diǎn)擊或拖拽實(shí)時(shí)圖像上的任意位詈,,即可移動(dòng)視野??扇Χ▽?shí)時(shí)圖像上的任一位置,,被圈定的位置可移動(dòng)到視野中央并放大。
· 簡(jiǎn)單操作,,如同觸屏般直觀
· 從移動(dòng)樣品臺(tái)到樣品觀察 ,,輕輕點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可實(shí)現(xiàn)。
· 也可觸屏操作,。
· 主窗口為1,280x960 像素的大窗口,。
· 可以切換顯示模式 ,并且同時(shí)顯示/拍攝兩種不同的信號(hào),。
· 自動(dòng)軸距調(diào)整功能
光軸調(diào)整以及更換燈絲之后所需 實(shí)施的各種調(diào)整工作已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了 自動(dòng)化,。由此能夠抑制光軸和視野的偏差,從而再也無(wú)需依靠操作人員的技能如何,,都可以重現(xiàn)性較好地獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù),。
配備了電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)的自動(dòng)調(diào)整功能。放入樣品并抽真空之后,,通過(guò)自動(dòng)啟動(dòng)功能可以實(shí)現(xiàn)圖像自動(dòng)調(diào)整,,并在電子束照射后立即獲取清晰的圖像。
高度自動(dòng)化功能采用全新設(shè)計(jì)的演算程序,,在執(zhí)行圖 像自動(dòng)調(diào)整功能時(shí),,等待時(shí)間縮短到以往的1/3以下。不需要繁瑣的畫像調(diào)整,,可輕松獲得高通量的圖像數(shù)據(jù),。
搭載Intel ligent Filament Technology(IFT)
· 自動(dòng)監(jiān)視燈絲的狀態(tài),自動(dòng)控制,,使其一直處于合適的性能狀態(tài),。
· 搭載顯示燈絲更換時(shí)間的顯示屏 。
通過(guò)該功能,,使得原來(lái)難以對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)觀察以及數(shù)據(jù)分析等大范圍分析均可以安心實(shí)現(xiàn)。
擴(kuò)展了真空模式和檢測(cè)功能,,以滿足多樣化的觀察需求,。除了可以安裝二次電子探測(cè)器,,以及在任何真空模式下都可操作的高靈敏度半導(dǎo)體式背散射電子探測(cè)器之外,還可以安裝 UVD,??梢垣@得樣品凹凸信息以及通過(guò)電子束照射產(chǎn)生的陰極熒光(CL信息)。
通過(guò)采用4分割+l單元的設(shè)計(jì),,對(duì)每個(gè)單元進(jìn)行計(jì)算,,無(wú)需傾斜樣品,即可獲得成分圖像,、3D圖像以及4方向凹凸圖像,。探測(cè)器的設(shè)計(jì)十分精巧,且靈敏度高,,實(shí)現(xiàn)了高分辨率和高信噪比 ,。
紅外CCD探測(cè)器是用于監(jiān)控樣品 倉(cāng)內(nèi)部的裝置。通過(guò)使用紅外線攝像機(jī),,可以在觀察SEM圖像的同時(shí)監(jiān)視樣品倉(cāng)內(nèi)部情況,。為了獲得更詳細(xì)的位置,可放大CCD圖 像,,并且移動(dòng)觀察位置,。
Zigzag功能可以自動(dòng)獲取連續(xù)的視野。MultiZigzag 可以在樣品臺(tái)的多個(gè)區(qū)域設(shè)定Zigzag,在不同的視野中拍攝多張高倍率圖像,,并能夠使用Viewer功能來(lái)拼接拍攝的圖像從而創(chuàng)建大視野圖像,。
與GUI 聯(lián)合的SEM MAP實(shí)現(xiàn)了廣角相機(jī)導(dǎo)航米。 在SEM MAP上觀察目標(biāo)位置 ,,可以順利地移動(dòng)到位置上,。使用大視野相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像,通過(guò)自由放大或縮小圖像,,可以將大視野的彩色圖像切換到高倍率的SEM 圖像,。
相機(jī)導(dǎo)航系統(tǒng)通過(guò)圖像拼接功能可以實(shí)現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察。觀察區(qū)域127mm/直徑200mm , 并且可以與樣品臺(tái)R一起聯(lián)動(dòng),,移動(dòng)到大型樣品的大觀察區(qū)域,。
Hitachimap 3D可對(duì)SU3800的5分割背散射電子探測(cè)器當(dāng)中的 4個(gè)不同方向的SEM信號(hào)進(jìn)行演算分析 ,生成三維圖像,。支持2點(diǎn)間高度,、體積和簡(jiǎn)易 表面粗糙度(面粗糙度、線粗糙度)測(cè)量,??梢淮涡越邮账膫€(gè)不同方向的信號(hào) ,因此,,無(wú)需傾斜樣品臺(tái)或合成圖像,。
日立掃描電子顯微鏡(SU3800)使用案例(電子產(chǎn)品):