TriStar II Plus 麥克比表面積測定儀
- 公司名稱 麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司
- 品牌 micromeritics/麥克默瑞提克
- 型號 TriStar II Plus
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/7/11 13:39:35
- 訪問次數(shù) 5658
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物理/化學(xué)吸附儀,、比表面積及孔隙度分析儀,、程序升溫化學(xué)吸附分析儀、靜態(tài)化學(xué)吸附儀,、程序升溫高壓化學(xué)吸附儀,、超高壓容量法等溫吸附儀、中高壓容量法物理吸附儀,、重量法動態(tài)蒸汽吸附儀,、全自動壓汞儀、各種密度分析儀,、催化研究微型反應(yīng)器,、磁性分析儀、固體表面能分析儀,、粉體混合物分離度實驗儀,、沉降粒度分析儀、激光粒度儀,、動態(tài)光散射納米粒度儀,、電阻法顆粒計數(shù)與粒度分析儀、全自動粒度粒形分析儀,、亞篩分粒度儀
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 比表面及孔徑分析儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,石油,能源 |
麥克比表面積測定儀TriStar II Plus
多用途/多通道/占地面積小
麥克比表面積測定儀TriStar II Plus是全自動化且含三個分析站的比表面積和孔隙度分析儀，具有出色的性能和分析速度,。TriStar II Plus比表面積測定儀為用戶提供高通量和高質(zhì)量的數(shù)據(jù),。*的耐腐蝕的不銹鋼歧管，可確保結(jié)果可靠且可重復(fù),。
硬件和軟件特點
· *的耐腐蝕的不銹鋼歧管,，設(shè)計用于高精度的氣體管理
· 改進的杜瓦瓶設(shè)計，提供超出40h的連續(xù)溫度控制
· 直觀的MicroActive軟件使用戶能夠用交互方式分析等溫線數(shù)據(jù)，更快地獲得比表面與孔徑數(shù)據(jù)
· 用戶自定義報告選項允許直接建模
· 強大的Python腳本語言,，允許用戶開發(fā)TriStar II Plus軟件標準報告庫擴展程序
· 創(chuàng)新的儀器顯示屏,，方便的儀器性能指標和維護信息實時顯示功能
· 能夠在碳微孔分析中同時利用CO2與N2兩個等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑
數(shù)據(jù)處理的優(yōu)勢
l 直接處理吸附數(shù)據(jù)。通過簡單的移動計算條,，用戶立即更新文本屬性,。一鍵式訪問重要的參數(shù)，讓用戶專注于結(jié)果,，而不是參數(shù)
l 交互式數(shù)據(jù)處理大限度地減少使用對話框和達到計算參數(shù)的路徑,。這使用戶準確和有效地確定材料的比表面積和孔隙度
l 更強的能包含壓汞數(shù)據(jù)的文件添加疊加刪除功能（多25個）
l 用戶可選數(shù)據(jù)范圍，通過圖形化界面允許直接建BET,、 t-plot,，Langmuir、 DFT理論等模型
l 報告選項編輯,，允許用戶自定義多達五份報告,，可在屏幕上預(yù)覽
l 每個報表都有總結(jié)、表格和圖形信息項
低比表面積測量選項
氪氣選件可以將比表面積測量范圍擴展至0.001m2/g,。
TriStar II Plus比表面積測定儀表格和圖表報告：
l 單點或多點BET 比表面積
l 總孔體積
l Langmuir 比表面和等溫線
l t-Plot
l Harkins和Jura厚度層公式
l Halsey厚度層公式
l 碳黑STSA
l Broekhoff-de Boer
l Kruk-Jaroniec-Sayari
l BJH 吸附/脫附曲線
l 標準
l Kruk-Jaroniec-Sayari校正
l Dollimore-Heal吸附/脫附曲線
l 中孔
l 孔體積和面積分布
l MP-方法
l HK
l Saito-Foley
l Chang-Yang
l DFT孔徑
l DFT表面能
l 總結(jié)報告
l SPC報告
l 確認報告
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