菲希爾X射線測(cè)量系統(tǒng)

菲希爾X射線測(cè)量系統(tǒng)

菲希爾一貫以持續(xù)的研發(fā),、設(shè)備和創(chuàng)新的軟件來迎接挑戰(zhàn),。因?yàn)橹挥薪?jīng)過精心構(gòu)思設(shè)計(jì)和按照高標(biāo)準(zhǔn)制造的產(chǎn)品，才能有很好的工作性能,。也只有這樣的產(chǎn)品才能配得上菲希爾的品牌,。菲希爾是您可信賴的品牌。

X射線熒光分析法:

能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法,，可用來定量和定性分析樣品的元素組成,，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量,。無(wú)論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能勝任,，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用,。

X射線熒光分析fa作為一種常用測(cè)試方法，有著其突出的優(yōu)勢(shì),。它幾乎可以測(cè)量所有工藝相關(guān)元素,，并且工作時(shí)無(wú)損且不接觸樣品。測(cè)量時(shí)間一般在數(shù)秒鐘內(nèi),，很少多于一分鐘,。通常不需要復(fù)制的樣品制備，即可進(jìn)行快速測(cè)量,。利用該方法,，可以同時(shí)測(cè)量均質(zhì)材料及鍍層的厚度和化學(xué)成分。不僅如此,，X射線熒光分析方法檢測(cè)各種類型樣品里的微量有害物質(zhì),。

原理：

X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原子由于受到初級(jí)X射線轟擊，從而失去內(nèi)層軌道中的某些電子,。失去電子所留下的空穴會(huì)被外層電子來填補(bǔ),，在填補(bǔ)的過程中，會(huì)產(chǎn)生每個(gè)元素的特征X射線熒光,。接收器探測(cè)到該熒光射線后,，便能提供樣品的材料組成等信息。