公司名稱：深圳市賽特檢測(cè)有限公司

公司地址：深圳市龍華區(qū)新湖路28號(hào)

深圳市賽應(yīng)高低溫測(cè)試報(bào)告

測(cè)試項(xiàng)目：低溫,、高溫測(cè)試

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008

測(cè)試樣品：電工電子產(chǎn)品

（低溫運(yùn)行,、低溫貯存）試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能否在*的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏,、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性,。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理,、試驗(yàn)初始檢測(cè),、樣品安裝、中間檢測(cè),、試驗(yàn)后處理,、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件,、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求,。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存,、生物制品,、遠(yuǎn)洋制品、電子元件,、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存,。
低溫條件下試件的失效模式：產(chǎn)品所使用零件,、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化,、可動(dòng)部卡死,、特性改變等現(xiàn)象。
低溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有：
a. 使材料發(fā)硬變脆,；
b. 潤滑劑粘度增加,，流動(dòng)能力降低，潤滑作用減??； 
c. 電子元器件性能發(fā)生變化； 
d. 水冷凝結(jié)冰,； 
e. 密封件失效,； 
f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。 

低溫測(cè)試目的：用來確定元件,、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用,、運(yùn)輸或貯存的能力。

深圳市賽應(yīng)高低溫測(cè)試報(bào)告

低溫測(cè)試的溫度有：

-65℃

-55℃

-50℃

-40℃

-33℃

-25℃

-20℃

-10℃

-5℃

+5℃

測(cè)試時(shí)長有：

2h

16h

72h

96h

深圳市賽應(yīng)高低溫測(cè)試報(bào)告

高溫測(cè)試目的：用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用,、運(yùn)輸或貯存能力,。

高溫測(cè)試的溫度有：

+1000℃

+800℃

+630℃

+500℃

+400℃

+315℃

+250℃

+200℃

+175℃

+155℃

+125℃

+100℃

+85℃

+70℃

+65℃

+60℃

+55℃

+50℃

+45℃

+40℃

+35℃

+30℃

測(cè)試時(shí)長有：

2h

16h

72h

96h

168h

240h

336h

1000h

高低溫測(cè)試方法：

非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：溫度漸變

散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：溫度漸變；試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電,。

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