Q8344A 光譜分析儀
- 公司名稱 深圳市晧辰電子科技有限公司
- 品牌 ADCMT/愛德萬
- 型號 Q8344A
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/11/28 15:25:45
- 訪問次數(shù) 1152
聯(lián)系方式:王海濤13715327187,13982098642 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
按探測器 | 其它 | 光譜范圍 | 可見 |
---|---|---|---|
價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 電子 |
產(chǎn)品描述:
Q8344A 是 Advantest 的光學分析儀,。光譜分析儀又稱光分析儀,是一種測量光源功率的精密儀器,。該電子測試設備用于監(jiān)控規(guī)定波長范圍內的功率分布,。它在圖表中顯示測量值,,其中功率是垂直刻度,波長是水平刻度,。
Advantest Q8344A 使用基于邁克爾遜干涉儀的傅立葉頻譜分析方法,。因此,Q8344A 可以測量光學相干性,,而這種光學相干性是使用衍射型光譜分析儀無法直接獲得的,,而衍射型光譜分析儀使用單色儀進行測量。
350 納米至 1750 納米
邁克爾遜干涉儀類型測量
直接相干長度測量
快速掃描
Q8344A 的規(guī)格:
輸入光纖:9/125 µm 和 50/125 µm
波長范圍:350-1750 nm
波長分辨率設置:0.05 at 850 nm 和 0.1 at 1310 nm
波長精度:± 0.1 nm
等級范圍:-70 至 +10 dBm (700-1600 nm)
-60 至 +10 dBm (450-1700 nm)
-45 至 +10 dBm (350-1750 nm)
電平精度:± 2.0 dB (850/1310 nm)
掃描時間:1.5 秒(400-1050 nm,、800-1750 nm)
接口通訊:GPIB