3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀
- 公司名稱 德瑞華測量技術(shù)(蘇州)有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 瑞士TRIMOS
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/3/12 14:39:17
- 訪問次數(shù) 2685
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TR-Scan 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀
TR-Scan系列非接觸表面微觀形貌(粗糙度)測量儀,,系統(tǒng)采用TRIMOS技術(shù)數(shù)字全息三維顯微測量技術(shù)(DHM),廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查,。與傳統(tǒng)非接觸測量技術(shù)相比,,測量速度快,對震動不敏感,,真正的實現(xiàn)三維形貌納米級測量,。模塊化的設(shè)計理念,可配置共焦顯微系統(tǒng), 探針測量系統(tǒng),,傳感器直接更換,,方便快捷,極大的滿足了不同的應(yīng)用范圍,。即可用于計量單位和材料科學(xué)研發(fā)實驗室,,也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域:汽車、航天、航空,、表面涂層,、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機系統(tǒng),、半導(dǎo)體等行業(yè),。
3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀主要特點:
◆ 非接觸式測量原理,無損化檢測粗糙度,,微觀形貌
◆ *的數(shù)字全息三維顯微技術(shù),,真正實現(xiàn)3D微觀形貌測量
◆ 創(chuàng)新的成像原理,從原理上保證了對外界振動不敏感,,Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件并自動定位,,測量速度快
◆ 模塊化的設(shè)計概念,多種光學(xué)光路原理,,直接更換傳感器,,不需要調(diào)整,方便快捷
◆ 可非標(biāo)定制相應(yīng)的測量頭,,滿足不同客戶的特殊工件測量要求
◆ 即可選用數(shù)字全息技術(shù)實現(xiàn)高精密表面測量,,也可選用色譜共焦技術(shù)實現(xiàn)微觀輪廓測量或選用接觸式探針實 現(xiàn)內(nèi)壁粗糙度測量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶界面”的理念,測量過程全 自動,,操作簡單
◆ 采用專業(yè)的3D形貌分析軟件,,功能強大,即可實現(xiàn)2D輪廓測量,,也可進行3D形貌分析
◆ 可進行編程批量檢測并自動生成分析報告
◆ *兼容2D標(biāo)準,,并已內(nèi)置即將制定的3D標(biāo)準
軟件特點:
TRIMOS NanoWare軟件,擁有的評價標(biāo)準程序來實時更新標(biāo)準測量符合以下標(biāo)準:ISO (4287,、4288,、11562、1101,、12085,、13563等),法國標(biāo)準NF,,制造標(biāo)準CNOMO,,ASME (B46.1) 和DIN標(biāo)準;三維表面特征數(shù)據(jù)標(biāo)準ISO 25178系列同樣有效,。
TRIMOS® NanoWare LT特點:
用于二維輪廓粗糙度測量分析的基本模塊,。操作簡便,包含用于表面檢查,,分析形貌,,粗糙度和波紋度測量的重要功能,。
◆ 常用參數(shù)要求數(shù)據(jù)Ra、Rq,、Rt,、線性材料曲率
◆ 過濾方式、水平,、放大
◆ 所有測量可復(fù)現(xiàn)三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT:
◆ 3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及 符合ISO 25178表面分析
◆ 3D基本參數(shù)(Sa, Sq, St, Smr, ...)
◆ 表面圖形仿真
◆ 距離, 高度及角度測量
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器
◆ zui終結(jié)果管理
◆ 測量點管理/再采集
◆ 輪廓提取, 體積測量
TRIMOS® NanoWare PRO:
2D及3D表面特征評估zui完整版本,。此模塊綜合了表面測量領(lǐng)域15年以來的經(jīng)驗。
◆ 市場上zui高性能的軟件
◆ 表面圖層研究
◆ 3D形貌鑒定
◆ 表面及輪廓統(tǒng)計分析及研究
可選測頭:
TR-Scan 3D光學(xué)輪廓粗糙度儀應(yīng)用示例: