FPD檢查顯微鏡的設計理念是為客戶提供高的操作效率。MX顯微鏡為用戶確保了四個等級的優(yōu)勢：快速入門,、簡易操作,、失敗分析和擴展功能。

FPD檢查顯微鏡MX51
MX51而工業(yè)檢查顯微鏡是一款高性價比的顯微鏡,，適用于各種電子元件,、晶圓和大型樣本的觀察需求。
·適合150mm晶片、液晶面板等檢測的電動機型（反射透射兼用）
·從明場到熒光觀察法,，滿足不同樣品的測量需求
·結合優(yōu)異的擴展功能,，可以滿足不同樣品的測量需求，實現了優(yōu)異的性價比
·備有150mm和100mm兩種載物臺
·可以進行明場,、暗場,、微分 干涉和簡易偏光觀察

MX-IR／BX-IR 
MX-IR／BX-IR是像透過玻璃似的可透視紅外線顯微鏡,。適用于封裝芯片,、晶圓級CSP／SIP的非破壞檢查。
·可以觀察IC內部的近紅外顯微鏡機型（反透射）
·搭載了從可見光到近紅外進行像差修正的IR觀察物鏡,，以及數碼增強系統,，可以很容易觀察IC內部
·可以非破壞性觀察半導體設備內部
·可以進行明場、近紅外線觀察

MX61A
MX61A是一款專門設計的半導體顯微鏡,，可使操作人員以正確的人體工程學姿勢進行操作,，有利于操作人員在長時間的工作中順利進行檢測，保證了工作的效率和產品一體化,。
·適合300mm晶片檢查的電動機型（反射）
·通過軟件控制內外部設備的顯微鏡系統
·通過電動控制,，不受樣品或操作員等各種條件的影像，實現檢查環(huán)境
·適合明場,、暗場,、微分干涉和簡易偏光觀察
·可以搭載與設備相適應的自動調焦機構

MX61L／MX61
MX61L,300mm晶片、液晶面板燈檢測的電動機型——明視場法,、暗視場法,、微分干涉法（DIC）、熒光法,、紅外線法和深紫外線法,，保證了的圖像分辨率和鮮明度。
·適合300mm晶片,、液晶面板等檢測的電動機型（反射投射兼用）
·從明場到熒光觀察法,，滿足不同樣品的需求
·可與物鏡的切換連動，自動調節(jié)光圈等,，實現了舒適的檢查環(huán)境
·搭載了14*12英寸載物臺,，可以適用于大尺寸樣品的檢測
·可以進行明場、暗場,、微分干涉和簡易偏光觀察
MX61,，200mm半導體檢查顯微鏡通過各種觀察方法——明視場法、暗視場法,、微分干涉法（DIC）,、熒光法、紅外線法和深紫外線法，保證了的圖像分辨率和鮮明度,。
·適合200mm晶片,、液晶面板等檢測的電動機型（反射投射）
·從明場到熒光觀察法，滿足不同樣品的測量需求
·可與物鏡的切換連動,，自動調節(jié)光圈等,，實現了舒適的檢查環(huán)境
·可以進行明場、暗場,、微分干涉和簡易偏光觀察