鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主要應用于半導體行業(yè),、光電行業(yè),、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜,、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本

    鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試,。測試腔體內部裝有不銹鋼加熱承載臺,，臺面為φ30，臺面可升溫到400℃,。臺面四周裝有微型3軸可移動鎢鋼探針,，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。

    該腔體設計有進氣口和抽真空接口其真空度用機械泵可達＜5Pa分子泵可達＜-3Pa,。真空信號連接處使用高級真空電極信號接頭,，保證氣密性及抗干擾性能。使用時將需將待檢測的器件方在加熱臺面,，探針尖處由3軸可移動探針手動調節(jié)移動至被測試器件的引腳處,，外部信號線連接測試儀器來測試電學信號。

         KT-Z1604T探針臺主要應用于傳感器,，半導體,，光電，集成電路以及封裝的測試,。 廣泛應用于復雜,、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質量及可靠性,，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本,。

        該探針臺的承載臺為60x60不銹鋼臺面，臺面可升溫到350℃,。真空腔體設計有進氣口和抽真空接口,。探針臂為X/Y/Z三軸移動，三個方向均可在真空環(huán)境下精密移位調節(jié),，其中X方向調節(jié)范圍：0－30mm,；y方向調節(jié)范圍：0－20mm；z方向調節(jié)范圍：0－20mm,；用戶可根據需要自行調節(jié),。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架X/Y/Z 方向行程,，通過顯微鏡觀察,，使探針對準檢測點后,，即可進行檢測