EM-AFM SEM電鏡兼容原子力顯微鏡
| 參考價(jià) | ￥ 100 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
- 公司名稱 蘇州微艾精密科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) EM-AFM
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2020/1/20 15:37:37
- 訪問次數(shù) 344
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源 |
|---|
SEM電鏡兼容原子力顯微鏡
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
EM-AFM 納米操作系統(tǒng)提供了在SEM電鏡中原子力顯微鏡成像和定量測(cè)量納米力的能力。它可將SEM和AFM這兩種顯微技術(shù)進(jìn)行聯(lián)用,，提供高速高分辨率的3D形貌成像,，以及微納米和亞納米尺度納牛力相互作用的實(shí)時(shí)觀測(cè)。
產(chǎn)品特征
· 同步AFM 和 SEM 成像
· *兼容市面上的主流SEM電鏡
· 超高分辨率形貌掃描
· 通過納米壓痕定量測(cè)量納米力
· 真空載鎖兼容
· 操作穩(wěn)定性高,，不受SEM電子束干擾
規(guī)格參數(shù)
| 系統(tǒng)概況 | 系統(tǒng)尺寸 | 100x100x35 |
| SEM載鎖兼容 | 根據(jù)客戶需求提供方案 | |
| 可用環(huán)境 | SEM真空環(huán)境兼容 | |
| 系統(tǒng)重量 | 400g+SEM/FIB適配器 | |
| 樣品運(yùn)動(dòng)臺(tái) | 運(yùn)動(dòng)范圍 | 15x15x5mm |
| 集成編碼器 | 可選 | |
| 閉環(huán)運(yùn)動(dòng)分辨率 | 1nm | |
| 大運(yùn)動(dòng)速度 | >45mm/s | |
| 小范圍掃描器 | 掃描范圍 | 35x35x5μm |
| 集成編碼器 | 有 | |
| 閉環(huán)分辨率 | 優(yōu)于0.2nm | |
| 大掃描速度 | 8μm/s | |
| 漂移率 | <2nm/min | |
| AFM傳感探頭 | 傳感原理 | 壓阻式 |
| 掃描模式 | 接觸式 | |
| 力感應(yīng)分辨率 | 優(yōu)于5nN | |
| 成像分辨率 | 優(yōu)于1nm | |
| 力傳感范圍 | +/200μN |
應(yīng)用案例
SEM-AFM圖像融合
SEM成像具有高橫向分辨率和掃描速率的優(yōu)勢(shì),，結(jié)合AFM成像提供的三維形貌信息，可獲取新的而又全面的信息
亞納米成像分辨率
全閉環(huán)編碼系統(tǒng)確保在沒有圖像失真的情況下獲得超高形貌成像分辨率,，同時(shí)獲取亞納米成像分辨率,。
納米壓痕和拉伸測(cè)試
樣品的納米力學(xué)性能可以在該儀器中通過納米壓痕和納米拉伸測(cè)試試驗(yàn)技術(shù)進(jìn)行測(cè)量。在SEM電鏡成像下,，可實(shí)時(shí)觀測(cè)壓痕和拉伸過程,。軟件提供了內(nèi)置的計(jì)算工具，用于分析和顯示獲取的觀測(cè)數(shù)據(jù),。
高真空環(huán)境/SEM兼容
結(jié)構(gòu)緊湊的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB,，并能夠在數(shù)秒內(nèi)完成安裝和拆卸。系統(tǒng)允許很小的工作范圍（5mm）,，同時(shí)兼容標(biāo)準(zhǔn)的SEM分析技術(shù)（如EDS,、EBSD,、WSD）。
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