激發(fā)方式 | 火花 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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檢測(cè)器類 | 電荷耦合元件(CCD) | 儀器種類 | 臺(tái)式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 鋼鐵/金屬,汽車及零部件 |
日立分析儀器OES系列直讀光譜儀|OE750
由于復(fù)雜的供應(yīng)鏈,,以及作為基礎(chǔ)材料使用的廢舊金屬數(shù)量的增加,鑄造廠和金屬制造商在控制熔體中的雜質(zhì)和痕量元素時(shí),,面臨著更多的壓力,。新型OE750型直讀光譜儀特具性能水平。它涵蓋金屬中所有元素的光譜,,并實(shí)現(xiàn)對(duì)某些元素的低檢出限。因此,,此款分析儀具備價(jià)格高昂的同類儀器所能提供的功能水平,,可為眾多鑄造廠和金屬制造商提供you質(zhì)分析。
日立分析儀器OE750直讀光譜儀實(shí)現(xiàn)高分辨率和寬動(dòng)態(tài)范圍要?dú)w功于采用了*CMOS探測(cè)器技術(shù)的革命性新光學(xué)理念,。其中有四項(xiàng)zhuan利正處于申請(qǐng)狀態(tài),。因此,這種新型分析儀能覆蓋非常寬的波長范圍,;這意味著該分析儀能測(cè)量金屬中ppm級(jí)別的所有元素,。這對(duì)于滿足當(dāng)今嚴(yán)格的金屬規(guī)格分析至關(guān)重要,該分析儀可以滿足新的ASTM E415標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于碳鋼和低合金鋼的試驗(yàn)方法的要求,。
日立分析儀器OE750直讀光譜儀是鋁鑄件的理想光譜儀,,因?yàn)樗梢詼y(cè)定亞共晶和過共晶鋁硅合金中含量極低的磷,。它可以分析銻、鉍,、鍶和鈉,,以及雜質(zhì)和痕量元素,從而確保這些元素能夠被控制在鋁熔體中,,以優(yōu)化結(jié)構(gòu)改造,。創(chuàng)新性光學(xué)設(shè)計(jì)能實(shí)現(xiàn)更短的啟動(dòng)時(shí)間,因?yàn)楣鈱W(xué)系統(tǒng)的體積相對(duì)較小,。這有助于那些需要在多點(diǎn)測(cè)量驗(yàn)證熔體質(zhì)量的工廠實(shí)現(xiàn)高批量生產(chǎn),。
除了新的光學(xué)設(shè)計(jì)之外,OE750還有其他支持大批量金屬分析的技術(shù)特性,。它有一個(gè)新的密封火花臺(tái),,具有優(yōu)化層流設(shè)計(jì),可降低氬氣消耗,,降低污染的可能性,,并大大降低維護(hù)要求。帶有低壓氬氣吹掃的*中壓系統(tǒng)可減少泵的使用,。這可將泵的功耗降低90%,,并避免油氣污染,從而增加可靠性和儀器的正常運(yùn)行時(shí)間,。這使得OE750具有高可靠性和低運(yùn)行成本,。
除創(chuàng)新性硬件技術(shù)外,新型OE750還包括可提高性能的軟件,。例如,,它包括日立牌號(hào)數(shù)據(jù)庫,該數(shù)據(jù)庫包含來自69個(gè)國家的339,000多種材料的1,200多萬條記錄和標(biāo)準(zhǔn),,減少了人工查閱牌號(hào)目錄的時(shí)間和潛在錯(cuò)誤,。可選的爐料校正軟件會(huì)自動(dòng)計(jì)算添加至熔體中的正確材料量,,使其符合規(guī)范,。
日立OES產(chǎn)品業(yè)務(wù)開發(fā)經(jīng)理Wilhelm Sanders表示:“在過去,鑄造廠和金屬加工企業(yè)在購買儀器時(shí),,不得不在高分析性能和可接受價(jià)格范圍之間作出選擇?,F(xiàn)在有了新型OE750,他們無需想出折中方案了,。OE750能憑借一套可使用的解決方案提供全面的金屬分析,。”
日立分析儀器OES系列直讀光譜儀|OE750
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