*代理商——岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

F50膜厚測量儀——自動(dòng)厚度測繪系統(tǒng)

自動(dòng)膜厚映射

Filmetrics F50系列產(chǎn)品可以每秒繪制兩個(gè)點(diǎn)的薄膜厚度,。電動(dòng)R-Theta載物臺(tái)可以接受標(biāo)準(zhǔn)和定制的卡盤，用于直徑大為450mm的樣品,。（這是在我們的生產(chǎn)系統(tǒng)中執(zhí)行數(shù)百萬次測量的同一壽命階段！）

地圖圖案可以是極性,，矩形或線性的,，也可以創(chuàng)建自己的樣式,，而對(duì)測量點(diǎn)的數(shù)量沒有限制。提供了數(shù)十種預(yù)定義的地圖圖案,。F50膜厚映射系統(tǒng)連接到Windows®計(jì)算機(jī)的USB端口，可以在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置,。

不同的F50儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長范圍,。標(biāo)準(zhǔn)F50是非常受歡迎的。通常,，較短的波長（例如F50-UV）用于測量較薄的膜，而較長的波長則可以測量較厚,，更粗糙和更不透明的膜,。

F54 膜厚測量儀——自動(dòng)厚度測繪系統(tǒng)

自動(dòng)膜厚映射

借助F54*的光譜反射系統(tǒng),，可以快速輕松地繪制直徑大為450毫米的樣品的薄膜厚度。電動(dòng)r-theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測量點(diǎn),，并提供每秒2個(gè)點(diǎn)的速度測量。

從數(shù)十種預(yù)定義的極性,，矩形或線性地圖圖案中選擇一種,，或創(chuàng)建自己的不受限制的測量點(diǎn)數(shù)量。整個(gè)桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置,，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用,。

F54膜厚映射系統(tǒng)連接到Windows®計(jì)算機(jī)的USB端口，可以在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置,。

不同儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長范圍,。通常,，較短的波長（例如F54-UV）用于測量較薄的膜，而較長的波長則可以測量較厚,，更粗糙和更不透明的膜。

F60系列膜厚測量儀——自動(dòng)厚度測繪系統(tǒng)

用于生產(chǎn)環(huán)境的自動(dòng)厚度映射

Filmetrics F60-t系列像我們的F50產(chǎn)品一樣繪制膜的厚度和折射率,，但是它還包含許多專門針對(duì)生產(chǎn)環(huán)境的功能。其中包括自動(dòng)找到缺口,，自動(dòng)機(jī)載基線,，帶運(yùn)動(dòng)互鎖功能的封閉式測量臺(tái)以及帶有預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī),。

不同的F60-t儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長范圍。通常,，需要較短的波長（例如F60-t-UV）來測量較薄的薄膜,，而較長的波長則可以測量較厚，更粗糙和更不透明的薄膜

岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關(guān)系,，單是國內(nèi)16年間已賣出超過600臺(tái)不同型號(hào)儀器，在國內(nèi)有多個(gè)服務(wù)處均有工程師,，保證能為客戶提供及時(shí)的服務(wù),。

經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的薄膜厚度測量系統(tǒng)的銷售*,，讓復(fù)雜測量變得簡單

產(chǎn)品簡介：

美國 Filmetrics 公司生產(chǎn)的薄膜厚度測量儀利用反射干涉的原理進(jìn)行無損測量，可測量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù),。測量精度達(dá)到埃級(jí)的分辯率,，測量迅速,，操作簡單，界面友好,，是目前市場上jiju性價(jià)比的薄膜厚度測量設(shè)備,。設(shè)備光譜測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍從200nm到1700nm可選,。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測量,。其可測量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間,，測量精度高達(dá)1 埃,，測量穩(wěn)定性高達(dá) 0.7 埃，測量時(shí)間只需一到二秒, 并有手動(dòng)及自動(dòng)機(jī)型可選,?？蓱?yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）, 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對(duì)二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors) , 太陽光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等,。

應(yīng)用：

通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術(shù),多達(dá)3-4層透明薄膜厚度,、 n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得,。其應(yīng)用廣泛，例如：

膜層實(shí)例：

幾乎任何光滑、半透明,、低吸收的膜都能測,。包括：

SiO2（二氧化硅）           SiNx（氮化硅）                    DLC（類金剛石碳）

Photoresist（光刻膠）     Polyer Layers（高分子聚合物層）      Polymide（聚酰亞胺）

Polysilicon（多晶硅）      Amorphous Silicon（非晶硅）

 基底實(shí)例：

對(duì)于厚度測量,，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底,。對(duì)于光學(xué)常數(shù)測量，需要一塊平整的鏡面反射基底,；如果基底是透明的,，基底背面需要進(jìn)行處理使之不能反射。

包括：

Silicon（硅）         Glass（玻璃）               Aluminum（鋁）

Gas（砷化鎵）        Steel（鋼）                 Polycarbonate（聚碳酸脂）

Polymer Films（高分子聚合物膜）

產(chǎn)品應(yīng)用,，在可測樣品基底上有了*的飛躍：

●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量，即使是藥片,，木材或紙張等粗糙的非透明基底。

●玻璃或塑料的板材,、管道和容器,。

●光學(xué)鏡頭和眼科鏡片,。

服務(wù)：

免費(fèi)樣機(jī)演示及測量

輕輕一按即可實(shí)現(xiàn)測量！

請(qǐng)聯(lián)系我們,，專業(yè)的應(yīng)用工程師將為你演示它是如此的方便！

優(yōu)勢：

*     提供在線診斷

*     配送獨(dú)立的軟件包

*     精通的歷史功能即程序數(shù)據(jù)可存儲(chǔ),、復(fù)制及策劃結(jié)果

*     免費(fèi)軟件升級(jí)

極易操作,、快速,、準(zhǔn)確、機(jī)身輕巧及價(jià)格便宜為其主要優(yōu)點(diǎn),，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號(hào)以供選擇:

一、單點(diǎn)測量系統(tǒng)（從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量）

二、F40 系列- 基于微米(顯微)級(jí)別光斑尺寸厚度測量

三、F50/F60系列- 表面的自動(dòng)測繪

四,、F30 系列- 在線厚度監(jiān)控儀器