*代理商——岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

F50膜厚測(cè)量?jī)x——自動(dòng)厚度測(cè)繪系統(tǒng)

自動(dòng)膜厚映射

Filmetrics F50系列產(chǎn)品可以每秒繪制兩個(gè)點(diǎn)的薄膜厚度,。電動(dòng)R-Theta載物臺(tái)可以接受標(biāo)準(zhǔn)和定制的卡盤(pán),，用于直徑大為450mm的樣品。（這是在我們的生產(chǎn)系統(tǒng)中執(zhí)行數(shù)百萬(wàn)次測(cè)量的同一壽命階段?。?/p>

地圖圖案可以是極性,，矩形或線(xiàn)性的，也可以創(chuàng)建自己的樣式,，而對(duì)測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量沒(méi)有限制,。提供了數(shù)十種預(yù)定義的地圖圖案。F50膜厚映射系統(tǒng)連接到Windows®計(jì)算機(jī)的USB端口,，可以在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置,。

不同的F50儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長(zhǎng)范圍,。標(biāo)準(zhǔn)F50是非常受歡迎的。通常,，較短的波長(zhǎng)（例如F50-UV）用于測(cè)量較薄的膜,，而較長(zhǎng)的波長(zhǎng)則可以測(cè)量較厚，更粗糙和更不透明的膜,。

F54 膜厚測(cè)量?jī)x——自動(dòng)厚度測(cè)繪系統(tǒng)

自動(dòng)膜厚映射

借助F54*的光譜反射系統(tǒng),，可以快速輕松地繪制直徑大為450毫米的樣品的薄膜厚度,。電動(dòng)r-theta平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn),，并提供每秒2個(gè)點(diǎn)的速度測(cè)量。

從數(shù)十種預(yù)定義的極性,，矩形或線(xiàn)性地圖圖案中選擇一種,，或創(chuàng)建自己的不受限制的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。整個(gè)桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置,，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用,。

F54膜厚映射系統(tǒng)連接到Windows®計(jì)算機(jī)的USB端口，可以在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置,。

不同儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長(zhǎng)范圍,。通常，較短的波長(zhǎng)（例如F54-UV）用于測(cè)量較薄的膜,，而較長(zhǎng)的波長(zhǎng)則可以測(cè)量較厚,，更粗糙和更不透明的膜。

F60系列膜厚測(cè)量?jī)x——自動(dòng)厚度測(cè)繪系統(tǒng)

用于生產(chǎn)環(huán)境的自動(dòng)厚度映射

Filmetrics F60-t系列像我們的F50產(chǎn)品一樣繪制膜的厚度和折射率,，但是它還包含許多專(zhuān)門(mén)針對(duì)生產(chǎn)環(huán)境的功能,。其中包括自動(dòng)找到缺口，自動(dòng)機(jī)載基線(xiàn),，帶運(yùn)動(dòng)互鎖功能的封閉式測(cè)量臺(tái)以及帶有預(yù)裝軟件的工業(yè)計(jì)算機(jī),。

不同的F60-t儀器的主要區(qū)別在于厚度和波長(zhǎng)范圍。通常,，需要較短的波長(zhǎng)（例如F60-t-UV）來(lái)測(cè)量較薄的薄膜,，而較長(zhǎng)的波長(zhǎng)則可以測(cè)量較厚，更粗糙和更不透明的薄膜

岱美有限公司與Filmetrics從03年開(kāi)始的合作關(guān)系,，單是國(guó)內(nèi)16年間已賣(mài)出超過(guò)600臺(tái)不同型號(hào)儀器,，在國(guó)內(nèi)有多個(gè)服務(wù)處均有工程師，保證能為客戶(hù)提供及時(shí)的服務(wù),。

經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)的銷(xiāo)售*,，讓復(fù)雜測(cè)量變得簡(jiǎn)單

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

美國(guó) Filmetrics 公司生產(chǎn)的薄膜厚度測(cè)量?jī)x利用反射干涉的原理進(jìn)行無(wú)損測(cè)量，可測(cè)量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)。測(cè)量精度達(dá)到埃級(jí)的分辯率,，測(cè)量迅速,，操作簡(jiǎn)單，界面友好,，是目前市場(chǎng)上jiju性?xún)r(jià)比的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備,。設(shè)備光譜測(cè)量范圍從近紅外到紫外線(xiàn)，波長(zhǎng)范圍從200nm到1700nm可選,。凡是光滑的,，透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測(cè)量,。其可測(cè)量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間,，測(cè)量精度高達(dá)1 埃，測(cè)量穩(wěn)定性高達(dá) 0.7 埃,，測(cè)量時(shí)間只需一到二秒, 并有手動(dòng)及自動(dòng)機(jī)型可選,。可應(yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）, 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對(duì)二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors) , 太陽(yáng)光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等,。

應(yīng)用：

通過(guò)Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x新反射式光譜測(cè)量技術(shù),多達(dá)3-4層透明薄膜厚度,、 n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測(cè)得,。其應(yīng)用廣泛,，例如：

膜層實(shí)例：

幾乎任何光滑、半透明,、低吸收的膜都能測(cè),。包括：

SiO2（二氧化硅）           SiNx（氮化硅）                    DLC（類(lèi)金剛石碳）

Photoresist（光刻膠）     Polyer Layers（高分子聚合物層）      Polymide（聚酰亞胺）

Polysilicon（多晶硅）      Amorphous Silicon（非晶硅）

 基底實(shí)例：

對(duì)于厚度測(cè)量，大多數(shù)情況下所要求的只是一塊光滑,、反射的基底,。對(duì)于光學(xué)常數(shù)測(cè)量，需要一塊平整的鏡面反射基底,；如果基底是透明的,，基底背面需要進(jìn)行處理使之不能反射。

包括：

Silicon（硅）         Glass（玻璃）               Aluminum（鋁）

Gas（砷化鎵）        Steel（鋼）                 Polycarbonate（聚碳酸脂）

Polymer Films（高分子聚合物膜）

產(chǎn)品應(yīng)用,，在可測(cè)樣品基底上有了*的飛躍：

●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測(cè)量,，即使是藥片，木材或紙張等粗糙的非透明基底,。

●玻璃或塑料的板材,、管道和容器。

●光學(xué)鏡頭和眼科鏡片,。

服務(wù)：

免費(fèi)樣機(jī)演示及測(cè)量

輕輕一按即可實(shí)現(xiàn)測(cè)量,！

請(qǐng)聯(lián)系我們，專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用工程師將為你演示它是如此的方便,！

優(yōu)勢(shì)：

*     提供在線(xiàn)診斷

*     配送獨(dú)立的軟件包

*     精通的歷史功能即程序數(shù)據(jù)可存儲(chǔ),、復(fù)制及策劃結(jié)果

*     免費(fèi)軟件升級(jí)

極易操作,、快速、準(zhǔn)確,、機(jī)身輕巧及價(jià)格便宜為其主要優(yōu)點(diǎn),，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號(hào)以供選擇:

一、單點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)（從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測(cè)量）

二,、F40 系列- 基于微米(顯微)級(jí)別光斑尺寸厚度測(cè)量

三,、F50/F60系列- 表面的自動(dòng)測(cè)繪

四、F30 系列- 在線(xiàn)厚度監(jiān)控儀器