OmniScan MX EC渦流檢測(cè)ECA/EC渦流陣列檢測(cè)儀檢測(cè)金屬表面缺陷探傷

OmniScan MX ECA渦流陣列檢測(cè)

渦流陣列技術(shù)OLYMPUS湖北代理-上海玖橫儀器有限公司

渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈,，并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù),， 可避免不同線圈之間的互感,。

OmniScan® ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈（使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz,，并能選擇在同一采集中使用多頻,。

渦流陣列的優(yōu)勢(shì)

同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì)：

l  檢測(cè)時(shí)間大幅度降低,。

l  單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域,。

l  減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

l  提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像,，便于數(shù)據(jù)的判讀,。

l  適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。

l  改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）,。

粘接檢測(cè),，重新打造

相同掃描中的8種頻率OLYMPUS福建代理-上海玖橫儀器有限公司

粘接檢測(cè)的改進(jìn)特性

• C掃描成像
• 可同時(shí)驅(qū)動(dòng)8種不同的頻率
• 計(jì)算缺陷大小的性能
• 改進(jìn)的POD
• 相位/波幅的顯示模式

重要事項(xiàng)

• 由于所使用的探頭與BondMaster 1000e+儀器相同，因此探測(cè)方式也與這款儀器相似,。
• 設(shè)計(jì)支持一發(fā)一收探頭,。
• 需要雙軸編碼掃查器生成C掃描。

高級(jí)復(fù)合材料檢測(cè)

我們Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了一款新開發(fā)的粘接檢測(cè)OmniScan解決方案：這無疑是復(fù)合材料檢測(cè)行業(yè)中的一大進(jìn)步,。如今,，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經(jīng)成為現(xiàn)實(shí)。這款OmniScan解決方案不僅可*地適用于蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合材料的脫膠檢測(cè),，還可以進(jìn)行分層檢測(cè),，且結(jié)果的精確程度與脫膠檢測(cè)相比絲毫不差。雖然這個(gè)解決方案主要為航空航天工業(yè)的在役檢測(cè)而設(shè)計(jì),，但是在包括汽車和船舶工業(yè)在內(nèi)的制造業(yè)中也非常有用,，如：針對(duì)復(fù)合材料船體的檢測(cè)。

已經(jīng)擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標(biāo)準(zhǔn)的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜,，就可以使用這個(gè)解決方案完成檢測(cè)應(yīng)用,。

我們特別為復(fù)合材料的檢測(cè)開發(fā)定制了MXB軟件。其新添的功能,，如：向?qū)Ш蜆?biāo)準(zhǔn)化,，有助于保持操作的簡(jiǎn)潔性。

編碼系統(tǒng)：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測(cè)工件,。Olympus提供兩個(gè)選項(xiàng)：一個(gè)是可*地適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器,；另一個(gè)是WING掃查器,，這款掃查器專門為掃查曲面工件而設(shè)計(jì)（如：航天飛機(jī)的機(jī)身），而且因其具有Venturi真空吸盤系統(tǒng),，甚至可以倒置進(jìn)行操作,。此外，裝有步進(jìn)點(diǎn)擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個(gè)系統(tǒng)兼容,，從而加強(qiáng)了系統(tǒng)的多用性,。

創(chuàng)新型C掃描視圖OLYMPUS西安代理-上海玖橫儀器有限公司

Olympus又一次創(chuàng)新了在屏幕上顯示數(shù)據(jù)的方法。針對(duì)每個(gè)C掃描,，操作人員可以有兩個(gè)視圖選擇：一種是波幅C掃描,，不會(huì)考慮相位情況，只基于信號(hào)的波幅而顯示不同的顏色,，這是一個(gè)可清晰,、有效地探測(cè)脫膠缺陷的理想視圖。另一種是相位C掃描,，使用0°到360°的彩色調(diào)色板顯示相位角的變化,，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補(bǔ)）缺陷或分層缺陷,。

相位C掃描,，光標(biāo)處于鑄封缺陷上

低頻掃描；波幅C掃描,，光標(biāo)處于脫膠缺陷上

高頻掃描,；相位C掃描，不同的彩色調(diào)色板

高頻掃描,；相位C掃描,，光標(biāo)處于分層缺陷上

兩個(gè)C掃描視圖

全屏C掃描視圖

缺陷大小估算功能

要求使用的設(shè)備

這個(gè)解決方案有兩種不同的配置，兩種配置都需要以下標(biāo)準(zhǔn)部件,。

標(biāo)準(zhǔn)部件OLYMPUS廣州代理-上海玖橫儀器有限公司

OmniScan MX和ECA/ECT模塊

MXB軟件

用于連接OmniScan產(chǎn)品的BondMaster探頭適配器

手動(dòng)配置 

HSB-01手持式掃查器

半自動(dòng)配置

雙軸掃查器OLYMPUS長(zhǎng)春代理-上海玖橫儀器有限公司

帶ACIX1520探頭架的SPO-5629-PHV探頭

帶ACIX1519探頭架的S-PC-P14探頭

渦流陣列探頭

Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀，可以設(shè)計(jì)出不同的探頭,。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋,、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷,。

傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù),。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設(shè)置具有更大的靈活性,。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應(yīng)檢測(cè)部件的外形,。

用于腐蝕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度,。

用于表面裂痕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼,。

用于表面裂痕檢測(cè)的探頭。

 OmniScan MX EC渦流檢測(cè)ECA/EC渦流陣列檢測(cè)儀檢測(cè)金屬表面缺陷探傷

渦流陣列軟件

簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

l  采集模式顯示分析模式顯示

l  C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集,，可快速有效地檢測(cè)缺陷,。

l  分析模式下的數(shù)據(jù)選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào),。

l  波幅,、相位和位置測(cè)量。

l  可調(diào)彩色調(diào)色板,。

l  大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測(cè)相適應(yīng)。

校準(zhǔn)向?qū)?/p>

l  分步進(jìn)行,。

l  一組中的所有通道可被同時(shí)校準(zhǔn),，每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。

l  波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定,。

報(bào)警

l  ３個(gè)報(bào)警輸出可將指示燈,、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。

l  可以在阻抗圖中定義不同的報(bào)警區(qū)形狀（扇形,、長(zhǎng)方形,、環(huán)形等）。

自動(dòng)探頭識(shí)別和配置

l  探頭被連接后,，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動(dòng)設(shè)置,。

l  頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化,。

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理OLYMPUS石家莊代理-上海玖橫儀器有限公司

l  實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示,。

l  使用兩個(gè)頻率，可生成一個(gè)MIX信號(hào),，以去除干擾信號(hào)（如：提離,、緊固件信號(hào)等）。

l  數(shù)據(jù)處理可以選用高通,、低通,、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例：在搭接處邊緣檢測(cè)出裂紋,，因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化,。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測(cè)效果，特別是對(duì)小裂紋而言,。

技術(shù)規(guī)格

• 上一產(chǎn)品:暫無上一篇
• 下一產(chǎn)品:渦流產(chǎn)品用于管材檢測(cè)的MultiScan MS5800

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