粉體在我們?nèi)粘Ｉ詈凸まr(nóng)業(yè)生產(chǎn)中的應(yīng)用非常廣泛,。如面粉,、水泥、塑料,、造紙,、橡膠、陶瓷等等,。 (1)篩分法,。優(yōu)點：簡單、直觀,、設(shè)備造價低,，常用于大于40um的樣品。缺點：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大,。 (2)顯微鏡(圖像)法,。優(yōu)點：簡單、直觀,，可進行形貌分析,，適合分布窄(大和小粒徑的比值小于10：1)的樣品。缺點：代表性差,，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩,，無法分析小于1um的樣品。 (3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降),。優(yōu)點：操作漸變,，儀器可以連續(xù)運行，價格低,，準確性和重復(fù)性較好,，測試范圍較廣。缺點：測試時間較長,，操作比較繁瑣,。 (4)電阻法。優(yōu)點：操作漸變可測顆粒數(shù),，等效概念明確,，速度快，準確性好,。缺點：不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。 (5)激光法。優(yōu)點：操作簡便,，測試速度快,，測試范圍廣，重復(fù)性和準確性好,，可進行在線測量和干法測量,。缺點：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價較高,，分辨力低,。 (6)電子顯微鏡法。優(yōu)點：適合測試超新顆粒甚至納米顆粒,，分辨力高,，可進行形貌和結(jié)構(gòu)分析，缺點：樣品少,，代表性差,，測量易受人為因素影響，儀器價格昂貴,。 (7)光阻法,。優(yōu)點：測試便捷快速，可測液體或氣體中顆粒數(shù),，分辨力高,。缺點：不適用粒徑小于1umde樣品，進行系統(tǒng)比較講究,，僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量 ,，對一般粉體用的不多,。 (8)透氣法。優(yōu)點：儀器價格低,。不用對樣品進行分散,，可測測性材料粉體。缺點：只能得到平均粒度值,，不能測粒度分布,；不能測小于5um細粉。 (9)X射線小角散射法,。用于納米級顆粒的粒度測量,。 (10)光子相關(guān)譜法(動態(tài)光散射法)。用于納米級顆粒的粒度測量,。