菲希爾X射線測厚儀XDL230

X射線鍍層測厚儀XDL 230簡介：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾鍍層測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度,、材料分析和溶液分析,，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230菲希爾X射線測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性,，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器,。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量,。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法,，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行測量和分析。菲希爾鍍層測厚儀XDL 230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制,、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控,。

配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,，這樣就可以檢查其均勻性,。為了簡單快速定位樣品，當(dāng)測量門開啟時,，XY工作臺自動移動到加載位置,，同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品,，例如線路板,，殼體在側(cè)面有開口（C形槽）。由于測量室空間很大,，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體,，也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品（樣品高度可達140mm）,。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體（DCM方法