90Plus Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀,，粒度測量采用動態(tài)光散射原理,，是一種準確、快速,、便捷的納米,、亞微米粒度分析測試儀器。Zeta電位測量采用電泳光散射原理,，帶電顆粒在外加電場作用下進行運動,，電荷運動使散射光產生頻率漂移(多普勒頻移),采用頻譜漂移分析技術,從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位,。

納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動,，使得光強隨時間產生脈動,。采用數字相關器（digital correlator）

技術處理脈沖信號,，將光強的波動轉化為相關函數,。自相關函數包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U散速度信息,，進而利用Stokes－Einstein方程計算得出粒子的擴散系數和粒子粒徑Rh及其分布

1.  90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀擁有522個物理通道,，相當于超過10¹⁰個線性通道,，25nS-1310S動態(tài)采樣時間及延遲時間分配,，支持互相關測量，支持多路信號輸入（詳見相關資料）,。

2.   采用35mW大功率固體激光器,，在保證穩(wěn)定性的同時有效地提高了信噪比，更加有利于對極小粒度及極稀體系的測量(如圖1),。由于光束的良好聚焦,，不會對體被測體系造成熱運動影響，同時保證了更小的散射體積,。

3.   90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀高線性范圍的PMT檢測器和高靈敏的APD檢測器根據客戶實際實驗要求選則,。APD以其高靈敏度適用于納米顆粒的測量；PMT檢測器以其良好的線性范圍適合測量分布較寬的樣品體系,。

4.   樣品池溫度控制范圍: -5 to 110℃±0.1℃,。