化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備>其它實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備>其它實(shí)驗(yàn)室設(shè)備>X-Strata920 X-Strata920鍍層測(cè)厚儀市場(chǎng)火爆的原因在哪
產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車(chē)及零部件 |
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X-Strata920鍍層測(cè)厚儀市場(chǎng)火爆的原因在哪
X-Strata920鍍層厚度的測(cè)量可分為標(biāo)準(zhǔn)曲線法和FP法(基本參數(shù)法)2種。標(biāo)準(zhǔn)曲線法是測(cè)量已知厚度或組成
的標(biāo)準(zhǔn)樣品,,根據(jù)熒光X射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此
標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量示知樣品,,以得到鍍層厚度或組成比率,。
FP法即是Fundamental Parameter Method的簡(jiǎn)稱。即基本參數(shù)法,。
1)標(biāo)準(zhǔn)曲線法:如下圖所示,,經(jīng)X射線照射后,,鍍層和底材都會(huì)各自產(chǎn)生熒光X射線,我們必需
對(duì)這2種熒光X射線能夠辨別,,方能進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量,。也就說(shuō),鍍層和底材所含有的元素必需是不
*相同的,,這是測(cè)量鍍層厚度的先決條件,。
X-Strata920鍍層測(cè)厚儀市場(chǎng)火爆的原因在哪?鍍層厚度測(cè)量時(shí),,可采用兩種不同方法,。一種是注重鍍層中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度,稱
為激發(fā)法,。另一種是注重底材中的元素所產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度,,稱為吸收法。這兩種方法的應(yīng)用必
需根據(jù)鍍層和底材的不同組合來(lái)區(qū)分使用,。
鍍層厚度測(cè)量時(shí),,測(cè)量已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品而得到其厚度及產(chǎn)生的熒光X射線強(qiáng)度之間的關(guān)系,
并做出標(biāo)準(zhǔn)曲線,。然后再測(cè)量未知樣品的熒光X射線強(qiáng)度,,得到鍍層厚度。但是需注意的是,,熒光X射
線法是從得到的熒光X射線的強(qiáng)度來(lái)求得單位面積的元素附著量,,再除以元素的密度來(lái)得出其厚度。
所以,,對(duì)于含有雜質(zhì)或多孔質(zhì)蒸鍍層等與純物質(zhì)不同密度的樣品,,需要進(jìn)行修正。
2)FP法 - 基本參數(shù)方法
采用FP法,,只需要比標(biāo)準(zhǔn)曲線法更少的標(biāo)準(zhǔn)樣品,,就能簡(jiǎn)單迅速地得到測(cè)量的結(jié)果。如果樣品
均勻,,所使用分析線的強(qiáng)度就可用樣品的成分和基本參數(shù)的函數(shù)來(lái)表示,。換句話說(shuō),從任意組成的樣
品所產(chǎn)生的分析線強(qiáng)度,,都可以從這基本參數(shù)來(lái)計(jì)算出,,所以我們稱這種方法為基本參數(shù)法。