DX 多功能X射線衍射/反射儀
- 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 DX
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/25 12:55:11
- 訪問次數(shù) 1715
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價格區(qū)間 | 300萬-500萬 | 儀器種類 | 小角散射儀 |
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應用領域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
簡介
Jordan Valley公司zui新設計的Delta-X是多功能的X射線衍射設備,,可靈活應用于材料科學研究、工藝開發(fā),、與生產(chǎn)質(zhì)量控制,。Delta-X衍射儀的光源臺和探測臺的光學元件可以全自動化調(diào)控,并采用水平式樣品臺,。Delta-X衍射儀可以在常規(guī)衍射模式,、高分辨率衍射模式、X射線反射模式之間靈活切換,。光學配置的切換*在菜單式程序控制下由計算機完成,,無需手動操作。自動化切換和準直不需要專門人員和操作設備,,并確保每次切換都能達到zui佳的光學準直狀態(tài),。
常規(guī)的樣品測量可以通過Delta-X衍射儀,實現(xiàn)部分,、乃至*的自動化運行,,自動化測量程序可以依客戶需求進行專門定制。也可采用*的手動模式操作Delta-X衍射儀,,以便發(fā)展新測量方法,,研究新材料體系。
數(shù)據(jù)分析或擬合可以作為測量程序的一部分,,可實現(xiàn)*自動化,,也可依據(jù)需要單獨進行數(shù)據(jù)分析。 依半導體生產(chǎn)線的需求,,將RADS和REFS擬合軟件以自動化模式運行,,允許在沒有用戶干擾的情況下自動完成常規(guī)性的數(shù)據(jù)分析,并直接完成數(shù)據(jù)擬合和結(jié)果輸出,。RADS和REFS也可以單獨安裝,,以便進行更詳細的數(shù)據(jù)分析。
Delta-X衍射儀能滿足科學研究所和技術開發(fā)中心 不同材料體系的*測試需求,。
Delta-X 衍射儀的主要特點和優(yōu)勢
- 自動化進行樣品準直,、測試、和數(shù)據(jù)分析
- 客戶可以自行設定測量的自動化程度
- 300mm的歐拉環(huán)支架(Eulerian Cradle)設計,,高精度的樣品定位和掃描
- 300mm的晶片水平式放置,,且可以完整mapping
- 100º的Chi軸傾轉(zhuǎn)范圍,、無限制范圍的Phi軸旋轉(zhuǎn)空間,可實現(xiàn)極圖和殘余應力測試
- 智能化的光學配置切換和準直,。依測量需要,,自動選擇光學配置并實施光學準直
- 工業(yè)界先的設備控制軟件和數(shù)據(jù)分析軟件
- 高分辨率測角儀,以保證精密且準確的測量
- 高強度的光源臺設計和光學元件組合,,以實現(xiàn)快速測量
- 多方面廣泛的測試技術和測量參數(shù)
- 由擁有超過30年的高分辨率X射線衍射經(jīng)驗的世jie級專家設計,、制造,具有客戶經(jīng)驗,。
Delta-X衍射儀的特點和優(yōu)勢
自動化控制的光學系統(tǒng):
Delta-X衍射儀的入射束包括多種標準的光學配置模式,,以便使光學配置具有充分的靈活性,且易于操作,??梢砸罁?jù)測量樣品的材料類型,選擇參考晶體,。
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- 標準模式:用于所有系統(tǒng),,平行束多層膜高反鏡
- 其他四種光學系統(tǒng)可以選擇和安裝:
- Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學元件)
- Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學元件)和一個參考晶體(二次反射)
- 兩個獨立的參考晶體(二次反射):參考晶體的材料類型和分辨率有多種設計供選擇,以便提供與測量zui匹配的分辨率,。
- 兩個參考晶體,,以Bartels模式安裝
- 參考晶體和高反鏡均可自動化切換
- 不需要將參考晶體和高反鏡手動移出衍射儀,保證光學元件不被損壞,、不偏離準直狀態(tài),。
- 衍射儀的初始準直易于操作,安全可靠,,無需在設備內(nèi)開啟X射線操作,。
樣品臺
可放置直徑≤300mm晶片或多個小尺寸晶片,、樣品
Delta-X衍射儀的歐拉(Eulerian )環(huán)支架設計允許放置單個或多個晶片或樣品,,并提供多個轉(zhuǎn)動軸的大范圍、高再現(xiàn)性的精確移動控制,。
- 水平式樣品放置
- 可實現(xiàn)X和Y軸方向上,,300mm內(nèi)的完整mapping測量,無邊緣測量失真的現(xiàn)象
- 10mm的Z軸高度范圍,,即使對厚樣品也可以調(diào)整晶片高度,,獲得zui佳測量位置
- 在樣品盤的不同位置,設計了均勻,、無扭曲的真空輕度吸附,,既適合大尺寸晶片放置,又適合獨立,、小尺寸晶片的多片式放置
- 100°的Chi軸傾轉(zhuǎn)范圍,,可實現(xiàn)完整的極圖和殘余應力測量
- Phi軸的旋轉(zhuǎn)范圍無限制,,可實現(xiàn)完整的極圖和面內(nèi)衍射測量
“邊緣至邊緣”全晶片測量 (無邊緣測量失真現(xiàn)象)
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Delta-X衍射儀支持全晶片測量,無邊緣測量失真的現(xiàn)象,。
特殊環(huán)境樣品臺
Delta-X衍射儀可選配高溫臺,,并用于各種測試技術。
樣品尺寸≤25mm
- XRR/XRD/HRXRD等技術均可實現(xiàn)
- zui高溫度可達1100℃
- 可實現(xiàn)真空,、空氣,、特殊氣體等不同的測量環(huán)境
- 可實現(xiàn)溫度的計算機自動控制
探測臺
閃爍式高性能點探測器
探測系統(tǒng)具有顯著提高響應特性等多方面的特點:
- EDRc (動態(tài)響應范圍增強型)探測器的動態(tài)響應范圍>2x107cps。配置全自動化衰減器后,,動態(tài)響應范圍可提高至5x108cps,。
- 選配三軸分析晶體和Soller狹縫,可自動化準直,,以保障各項測量所需的分辨率,。
- 馬達驅(qū)動的自動化探測狹縫。無需手動調(diào)整,,即可控制探測臺的接收精度,。
- 超快速掃描引擎和軟件。大范圍掃描可以在5秒內(nèi)完成,。
性能的線探測器(選配件)
提供一維(1D)線探測器可供選擇,,能實現(xiàn)束線信號的同步平行采集,能顯著提高XRD的測量速度,。特別適用于小束斑條件下的XRD測量,、和快速HRXRD倒易空間map測量。
- 自動化束線準直
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