奧林巴斯OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列探傷儀*代理

NORTEC 600渦流探傷儀奧林巴斯一級代理,，OMNISCAN MX 相控陣&TOFD超聲檢查設備，奧林巴斯無損探傷設渦流陣列檢測儀器OmniScan MX MXE(ECT / ECA,。

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OmniScan MX ECA

用于進行渦流陣列檢測,。其檢測配置支持32個傳感器線圈（使用外置多路轉換器可支持64個線圈），其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式,。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz,，帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。

渦流陣列檢測

渦流陣列技術 
渦流陣列技術（ECA）以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈，并解讀來自這些感應線圈的信號,。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù),， 可避免不同線圈之間的互感。 

OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應線圈（使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個）,。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz,，并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢 
同單通道渦流技術相比,，渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢：

• 檢測時間大幅度降低,。
• 單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
• 減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性,。
• 提供檢測區(qū)域實時圖像,，便于數(shù)據(jù)的判讀。
• *地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測,。
• 改進了檢測的可靠性和檢出率（POD）,。

渦流陣列探頭 
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域,。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋,、點蝕等缺陷,，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。

傳感器之間的多路轉換技術,。

渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,，使渦流設置具有更大的靈活性。

探頭可以做成不同的形狀和尺寸,，以更好地適應檢測部件的外形,。

用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。

用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼,。

用于表面裂痕檢測的式探頭,。

奧林巴斯OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列探傷儀*代理

渦流陣列軟件

簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

• C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集，可快速有效地檢測缺陷,。
• 分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
• 波幅,、相位和位置測量,。
• 可調(diào)彩色調(diào)色板。
• 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,，與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應,。

校準向導

• 分步進行。
• 一組中的所有通道可被同時校準，每個通道各有自己的增益和旋轉,。
• 波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設定,。

報警

• ３個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起,。
• 可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀（扇形,、長方形、環(huán)形等）,。

自動探頭識別和配置

• 探頭被連接后,，C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設置。
• 頻率范圍保護可避免損壞探頭,。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰通道間的提離變化,。

高級實時數(shù)據(jù)處理

• 實時數(shù)據(jù)插值可以改進缺陷的空間顯示。
• 使用兩個頻率,，可生成一個MIX信號,，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）,。
• 數(shù)據(jù)處理可以選用高通,、低通、中值和平均濾波器,。下圖為一個應用實例：在搭接處邊緣檢測出裂紋,，因為該處厚度出現(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進檢測效果,，特別是對小裂紋而言,。

我司銷售工業(yè)X射線探傷機，萬睿視（Varex）平板探測器（DR-PaxScan® 1515DXT平板探測器,、DR-PaxScan®2520DX平板探測器,、DR-PaxScan®2530HE平板探測器、DR-PaxScan® 1313DX平板探測器,、DR-PaxScan®2530DX平板探測器,、DR-PaxScan® 1308DXT平板探測器、DR-PaxScan®1308DX平板探測器）及球管,。

超聲波探傷儀（復合材料粘接檢測儀BondMaster 1000e+,、超聲探傷儀EPOCH XT、超聲探傷儀EPOCH 600,、超聲探傷儀EPOCH LTC,、超聲波TOFD相控陣OmniScan MX2、超聲波TOFD相控陣Ominscan SX,、超聲探傷儀EPOCH 1000系列,、超聲波點焊檢測系統(tǒng)USLT USB、超聲波探傷儀USN60、超聲波探傷儀USM 36,、便攜式超聲波探傷儀USMgo+）,、

探頭線、探頭,、各種試塊,、

測厚儀（MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀、新型45MG超聲波測厚儀,、高級多功能超聲波測厚儀38DL PLUS,、經(jīng)濟型超聲波測厚儀27MG、35RDC復合材料粘接檢測儀,、便攜式MG2系列腐蝕測厚儀,、超聲波測厚儀DM5E、精密測厚儀CL5）,，

光譜儀（Vanta手持式XRF分析儀,、DELTA Professional合金分析儀、DELTA Element分析儀）,，

工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡（EFER FLASH 900,、 IPLEX NX?、IPLEX GX/GT,、IPLEX G Lite,、IPLEX TX、IPLEX YS）,、紫外熒光內(nèi)窺鏡、磁粉探傷機,、反差增強劑,，滲透劑等，

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