德國菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀,，是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列,，其非破壞式的測量，特別適合五金的金屬鍍層厚度,，測量快速,、精確、無損.如一些五金零件,、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量,。德國菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀，采用了高次數(shù)率的比例接收器,，可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下,，對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量，另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下,，可測量多至24元素,，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL X－RAY光譜膜厚儀的*穩(wěn)定性是十分高的,，這使儀器減少校正所需要的時間及次數(shù),，便于管理儀器，并提高生產(chǎn)效率.應(yīng)用范圍廣泛,，包括了測量大量的電鍍五金件,、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導(dǎo)體行業(yè)中分析其功能性的鍍層,、可用于電路板測量,、電鍍槽中的藥水成份分析,已成為被廣泛應(yīng)用的自動測定涂鍍層厚度的儀器。