一,、運行控制系統(tǒng)

1,、控制器: 采用進口LED數(shù)顯（P、I,、D S,、S、R.）微電腦集成控制器
2,、精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃,，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
3,、制冷系統(tǒng): 進口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組,，原裝法國“泰康”全封閉風冷復迭壓縮制冷方式
4、循環(huán)系統(tǒng): 耐溫低噪音空調(diào)型電機,，多葉式離心風輪
5,、溫度轉(zhuǎn)換時間: 從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S
6、溫度恢復時間: ≤5min（與溫度恢復條件有關(guān),，即冷卻水溫,、暴露溫差,、恒溫時間,、樣品重量有關(guān)）溫度沖擊方法: 垂直兩箱法/垂直三箱法 （兩箱式冷熱沖擊試驗箱/三箱式冷熱沖擊試驗箱）

二、半導體冷熱溫度沖擊試驗機主要技術(shù)指標

1．內(nèi)箱尺寸：寬500mm*高400mm*深400 mm
2. 機器重量: 約1000KG
3．預(yù)熱zui高溫度范圍：+60℃～200℃,；
4．儲溫箱升溫時間約：+60℃～200℃≤30min,；
5. 預(yù)冷zui低溫度范圍：-10℃～ -75℃；
6．儲溫箱降溫時間約：+20℃～-75℃≤40min,；（注：降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能）
7．試驗方式：氣動風門切換2溫區(qū)或3溫區(qū),；
8．冷熱沖擊可選溫度范圍：（高：+65℃～+150℃）/ （低A：-40℃～-10℃；低B：-55℃～-10℃,；低C：-65℃～-10℃）
9．溫度波動度：±0.5℃
10．溫度偏差：±2.0℃
11．溫度恢復時間：3～5min

三,、主要用途

半導體冷熱溫度沖擊試驗機主要是測試電子產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存,、運輸和使用時的性能試驗,，主要用于各種各類型的電子產(chǎn)品在模擬冷溫、熱溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗,，對電子產(chǎn)品的物理以及其相關(guān)性能進行測試或試驗,，大概詳情如下：
1,、在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價電子產(chǎn)品可靠性達到預(yù)定指標的情況,；
2,、生產(chǎn)電子產(chǎn)品階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息；
3,、對電子產(chǎn)品的定型進行可靠性鑒定或驗收,；
4、暴露和分析電子產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理,；
5,、為改進電子產(chǎn)品的可靠性，制定和改進可靠性試驗方案,，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù),。