一,、產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層測厚儀運(yùn)用X射線熒光光譜分析方法進(jìn)行鍍層檢測，多鍍層檢測可達(dá)5層,，精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi),。

2. 儀器尺寸：618*525*490mm，樣品移動距離：160*150*90mm,。

3. 激光定位和自動多點(diǎn)測量功能,。

• 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料,。
• 運(yùn)行及維護(hù)成本低,、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低,。
• 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描,、無標(biāo)樣定性，半定量分析,。
• 操作簡單,、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損,、高品質(zhì),、高性能,、高穩(wěn)定性,，快速出檢測結(jié)果。
• 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件,。
• 軟件*升級,。
• 無損檢測，一次性購買標(biāo)樣可長期使用,。
• 使用安心無憂,，售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),，提供*保姆式服務(wù)。
• 可以遠(yuǎn)程操作,，解決客戶使用中的后顧之憂,。
• 可進(jìn)行RoHS檢測（選配功能），應(yīng)對新版中華人民共和國RoHS檢測要求,，歐盟及北美RoHS檢測等要求標(biāo)準(zhǔn),，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞,、鎘,、鉻、鋇,、銻,、硒、砷等重金屬,，測試無鹵素指令中的溴,、氯等有害元素。亦可對成分進(jìn)行分析,。

（二）產(chǎn)品特征

• 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
• 計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）,。

• Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)（FP）軟件，通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定,，使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法,，對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析，可以增加RoHS檢測功能,。
• MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量

相對（比）模式  無焦點(diǎn)測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 

多鍍層厚度同時測量

單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如：Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速,、簡單的定性分析的軟件模塊?？赏瑫r分析20種元素,。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給,。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件,。可一次性分析25種元素,。小二乘法計(jì)算峰值反卷積,。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%,，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt

Smart-Ray,。含全元素、內(nèi)部元素,、矩陣校正模塊,。

• Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
• 完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值,、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),，趨勢線,，Cp 和 Cpk 因素等
• 自動移動平臺，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量,。大測量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個階段文件,。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵",。每個階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包,。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù),、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝,、激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。

二,、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明

1. X射線管：高穩(wěn)定性X光光管,，微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬) 靶

鈹窗口,， 陽極焦斑尺寸75um,，油絕緣，氣冷式,，輻射安全電子管屏蔽,。

50kV，1mA,。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供優(yōu)異性能,。

• 探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

• 濾光片/可選

初級濾光片：Al濾光片，自動切換

7個準(zhǔn)直器：客戶可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器,。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

• 平臺：軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺,。
  激光定位、簡易荷載大負(fù)載量為5公斤
  軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量
• 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定,、簡易荷載,、激光定位及拍照功能

6. 分析譜線：

- 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）

- 基點(diǎn)改正（基線本底校正）

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示

7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍：3mm x 3mm

- 放大倍數(shù)：40X

- 照明方法：上照式

- 軟件控制取得高真圖像

8. 計(jì)算機(jī),、打印機(jī)（贈送）

• 含計(jì)算機(jī),、顯示器、打印機(jī),、鍵盤,、鼠標(biāo)
• 含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
• Multi-Ray鍍層分析軟件

注：設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,，需另計(jì),。

五、軟件說明

1．鍍層測厚儀儀器工作原理說明