TRACKSCAN-DUO跟蹤式三維掃描儀系統(tǒng)具備*測量范圍和*測量精度,。在高難度的三維掃描項目中,，TRACKSCAN-DUO是較好的三維測量解決方案，掃描過程快速簡單,，掃描數(shù)據(jù)精度*,，得益于Metronor30年測量技術(shù)沉淀,，TRACKSCAN-DUO便攜式三維測量系統(tǒng)具有*的精度、的掃描結(jié)果,。

TRACKSCAN-DUO跟蹤式三維掃描儀*的跟蹤技術(shù)：LED光學跟蹤技術(shù),，主動尋靶定位，具備更強的抗*力和更大的工作量程,。

超大的測量范圍：激光掃描時大工作距離可達10米,，接觸式光筆大測量距離可達15米，輕松實現(xiàn)大物體三維
檢測,。

接觸式測量兼容：配合TrackProbe 光筆,，可實現(xiàn)接觸式三維測量，1μm分辨率保證關(guān)鍵點高精度三維數(shù)據(jù)獲取,。

靈活的測量方案：支持單鏡頭,、多鏡頭等多種光學跟蹤裝置方案，根據(jù)需求調(diào)整工作區(qū)域,，掃描區(qū)域和掃描精度之間*平衡,。