市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法,，兩者在本質(zhì)上是相通的,，測量精度相近，頻域技術(shù)是時域法的傅里葉變換的延伸,。時域和頻域技術(shù)在各種顯微壽命成像平臺中都有應用,，時間相關(guān)單光子計數(shù)方法（TCSPC )是zei為常見的時域技術(shù)，而新興的數(shù)字頻域技術(shù)（FastFLIM™ )則取代了傳統(tǒng)的模擬頻域技術(shù),，憑借其獨恃的優(yōu)勢成為應用zei廣的頻域技術(shù),。

   美國ISS是jin有的能同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案的公司，其推出的FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊,，可以讓您現(xiàn)有的共聚焦顯微鏡擁有FLIM及FCS測試功能,，可適配各種顯微鏡,。

FastFLIM可兼容同步激光共聚焦激光器，用于FLIM/FFS,。

激光共聚焦自帶的混合光子探測器（Hyd）可直接跟FastFLIM連接,，用戶FLIM/FFS

FastFLIM模塊通過USB與電腦連接，可任意選配控制工作站,。

FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊的優(yōu)勢：

Ø高效快速的數(shù)據(jù)采集模式（100% duty cycle）,幾乎無死亡時間;

Ø光子計數(shù)動態(tài)范圍大,，線性度高，數(shù)據(jù)采集率可達每秒計數(shù)6x10⁷,；

Ø提供四個數(shù)據(jù)輸入通道,，

Ø同時對四個檢測器進行并行數(shù)據(jù)采集； 

Ø靈活度高,，應用范圍廣

Ø100ps到100ms的無間斷壽命測量,；

Ø可接入多種模式觸發(fā)信號與脈沖激光或其它測量設(shè)備同步；

Ø可輸出多種模式觸發(fā)信號來調(diào)控脈沖激光重復率或調(diào)制激光或同步其他測量設(shè)備