AP-CJ 溫沖高溫試驗箱
- 公司名稱 廣東愛佩試驗設(shè)備有限公司
- 品牌 愛佩科技/A-PKJ
- 型號 AP-CJ
- 產(chǎn)地 東莞
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/11/9 8:50:53
- 訪問次數(shù) 1987
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 1千-1萬 |
|---|
溫沖高溫試驗箱選擇廣東愛佩試驗設(shè)備有限公司規(guī)模大,，產(chǎn)量大、銷量也大,。生產(chǎn)高低溫沖擊試驗箱的人員基本上平均有10年以上的工作經(jīng)驗,，并擁有一批*的進(jìn)口生產(chǎn)設(shè)備，其中主要包含：折彎機(jī),、剪板機(jī),、剪角機(jī)、電鉆,、自動沖床,、減角機(jī)，噴涂老化房,、設(shè)備成型后擁有一批高科技人才從焊接,、組裝、制冷安裝,、電路安裝,、調(diào)試等環(huán)節(jié)，出廠具備出廠檢驗書,，專門檢測設(shè)備*工具,，九點檢測儀器等相關(guān)設(shè)備。
愛佩公司生產(chǎn)的沖擊箱有瞬間從高溫沖到低溫或者從低溫瞬間沖擊到高溫的試驗功能,。適用于所有工業(yè)材料,、工業(yè)產(chǎn)品的成品或者半成品。
1,、詳細(xì)設(shè)備的型號及技術(shù)參數(shù)如下：(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440
AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440
AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440
AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540
AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640
AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150
2,、溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃,；C:-65~ 150℃
3,、電源均采用：3∮5W AC380±10% 50/60HZ
4、高溫室：預(yù)熱溫度范圍,，RT 20℃~200℃升溫時間: 20℃~ 200℃約30min
5,、低溫室：預(yù)冷溫度范圍，RT~-80℃降溫時間: 20℃~-80℃約80min
6、實驗室沖擊：溫度均勻度±2.0℃
7,、內(nèi)外部材質(zhì)：內(nèi)箱為SUS 304#不銹鋼板霧面處理,，外箱為冷軋鋼噴塑處理或不銹鋼
8、保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
9,、控制器：愛佩采用大屏觸摸屏
10,、通訊功能：RS-232接口
11,、壓縮機(jī)：'泰康'牌或''
12,、制冷劑：R23和R404環(huán)保制冷劑
13、冷卻系統(tǒng)：全密閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式)或半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)
14,、控制系統(tǒng)：微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)
15,、冷凝器：不銹鋼釬焊板式換熱器
16、加熱器,、冷卻器：鎳鉻合金加熱器,、翅片式冷卻器、蓄冷器
17,、氣動氣缸：高溫,、環(huán)境溫度、低溫暴露時的各個風(fēng)門驅(qū)動用
測控系統(tǒng)：
1.控制器：進(jìn)口7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊
2.運行方式：程序方式
﹙1﹚控制對象 試驗區(qū)曝露溫度
高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)除霜溫度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN
﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制
3.設(shè)定方式：中文菜單,，觸摸屏方式輸入,。
4.程序容量：100組程式，每個程序大3步,；每個程序可設(shè)1000次循環(huán),，大循環(huán)設(shè)定9999cycles;
溫沖高溫試驗箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導(dǎo)則
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
GB/T 2423.22-2002溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則
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