EDAX OIM™能譜儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 EDAX Inc.美國伊達克斯有限公司-J
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/4/2 16:16:34
- 訪問次數 1646
產品標簽
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1.GENESIS X射線能譜儀(EDS, EDX)2.電子背散射衍射分析系統(tǒng) EBSP/OIM (EBSD)3.LEXS/TEXS新型高精度自動聚焦波譜儀 (WDS, WDX)4.TEM 自動晶體學分析系統(tǒng) ACT/TOCA
5.EAGLE III X射線微探針熒光能譜儀 (XRF)
| 價格區(qū)間 | 面議 | 探測器類 | 硅漂移探測器（SDD） |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 進口 |
EDAX OIM™能譜儀是一個簡單易用,、功能強大的微結構離線分析工具。它為探索OIM數據掃描所包含的信息提供了無限的可能,。這個軟件的易用性和*的可視化工具使了解材料的基本結構變得簡單,。它將不同的分析集成在一起，方便不同分析結果的交叉相關,。
OIM數據分析是*個64位顯微分析軟件包,，與微軟Windows 7兼容，可以分析非常大的掃描文件,，比現有系統(tǒng)可處理的數據大一個量級（大于4千萬個數據點）,。
DAX OIM™能譜儀突顯功能適合互動數據分析
突顯的數據可以過濾出來形成獨立的數據集進行單獨分析。OIM數據分析提供了一套綜合的分析工具,，允許用戶并排研究圖形,、圖表、曲線和紋理,。這種比較分析加上OIM數據分析*的互動突顯能力為用戶提供了的數據挖掘選擇,。
突顯功能對互動數據分析非常有用。它將定量和定性評估與具體的微結構特征關聯起來,。在一個打開的窗口,，簡單地突顯感興趣區(qū)域，相應的數據點就會立即顯示在相關的圖形和圖表上,。一旦突顯,，數據和相關的微結構特征可以劃為新的數據集進行單獨分析。
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