2800B型ROHS指令檢測(cè)儀分析原理也就是X射線(xiàn)熒光光譜儀的分析原理。X射線(xiàn)熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?lèi),，波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源,、分光晶體和測(cè)角儀,、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,，相對(duì)簡(jiǎn)單,。

2800B型ROHS指令檢測(cè)儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線(xiàn)，根據(jù)Bragg定律,，通過(guò)測(cè)定角度,，即可獲得待測(cè)元素的譜線(xiàn)波長(zhǎng)：

nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）

式中 ，λ為分析譜線(xiàn)波長(zhǎng),；d為晶體的晶格間距,；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次,。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線(xiàn)的衍射角,，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息,。

能量色散射線(xiàn)熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器,，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線(xiàn)能量：

Q=kE

式中,，K為入射射線(xiàn)的光子能量,；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類(lèi)型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù),。電荷量與入射射線(xiàn)能量成正比,，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。

待測(cè)元素的特征譜線(xiàn)需要采用一定的激發(fā)源才能獲得,。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線(xiàn)光管和同位素激發(fā)源等,。

為獲得樣品的定性和定量信息,，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù),，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理,。