1.基本理論

測定鈾常見的方法有分光光度法、比色法和激光熒光法,。钚常見的測定方法有α計數(shù)法,、α能譜法和X射線計數(shù)法。但是用上述方法在熱試樣品分析過程中及樣品預處理時操作比較煩瑣,，耗時較長,，并且不能直接測定鈾和钚?；瘜W預處理樣品后采用石墨晶體預衍射X射線熒光法測定鈾和钚,，效果好，速度快,。
我國后處理工藝分析中,，以前較少采用X熒光分析方法。主要原因是樣品本身具有的放射性,，對測量產生較大干擾,。采用石墨晶體預衍射能量色散X射線熒光(EDXRF)分析，較好解決了放射性干擾的問題,，U 的檢出限比通常的EDXRF降低了約1個數(shù)量級,。我們自行開發(fā)的墨晶體預衍射EDXRF分析儀器,，是在普通的能量色散X射線熒光的樣品和探測器之間精心設計加工了1個石墨晶體衍射器，用以排除樣品本身放射性的影響,，使其適用于測量乏燃料后處理工藝溶液,。可以廣泛應用于后處理工藝分析中,。

2.儀器構成

2.2.1高壓電源：石墨晶體預衍射X射線熒光分析儀是給X光管提供高壓和電流并保持高壓和電流穩(wěn)定的裝置,，由升壓變壓器、高壓整流濾波,、電壓電流調整及其相關的安全保護裝置構成,。
2.2.2 X光管：由發(fā)射熱電子的燈絲陰極和接受電子的靶陽極組成。在電流作用下發(fā)射熱電子,，在二極間高壓電場作用下,，熱電子高速飛向靶陽極，產生X射線,。
2.2.3 探測器：石墨晶體預衍射X射線熒光分析儀將X熒光轉變?yōu)殡妷好}沖信號,。為了準確區(qū)別不同能量的X熒光，必須采用SDD半導體探測器才能達到能量分辨率,。
2.2.4放大器：電壓脈沖信號放大到一定倍數(shù),，分為前置放大器和主放大器。前置放大器一般設計在探測器內,，主放大器一般和多道分析器設計在同一主板里,。
2.2.5多道分析器：多道脈沖幅度分析器是核譜測量中的關鍵部件，它的作用是把被測得的模擬量轉變成計算機可以接受的數(shù)值量,。經過放大的電壓脈沖信號進入模數(shù)轉換器（ADC）以數(shù)字形式進入和存儲在分析器各自的通道,。幅度相同的脈沖進入同一通道，并加以記錄,。
2.2.6數(shù)據(jù)處理：主要包括X熒光能譜譜線的成形,、譜線中各元素的特征譜峰識別、譜線的能量刻度,、目標元素對應峰面積的計算,、譜線漂移實時穩(wěn)譜、建立數(shù)據(jù)庫,、分析樣品,、含量計算及報告打印等功能。