德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析,。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣,，這種*的分析技術(shù)已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段,。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù),，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。

   XEPOS XRF光譜儀內(nèi)部采用高性能部件,，可獲得的靈敏度和準確性,。采用偏振次級靶以確保激發(fā)，12位樣品自動交換器,，預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

XEPOS XRF光譜儀配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包,，包括：在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法,。適合分析：土壤、污泥,、油中添加劑,、水泥,、爐渣、耐火材料,、電子元器件RoHS檢測等,。

   XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘,、(汞)等元素分析,，檢出下限低，靈敏度高,、穩(wěn)定性好,，可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令,。