Thermo Scientific™ Nexsa™ X射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)在提供全自動,、高通量的多技術(shù)分析的同時(shí)，保持研究級的高質(zhì)量分析檢測結(jié)果,。集成ISS,、UPS、REELS,、拉曼等多種分析技術(shù)于一身,，用戶因此能夠進(jìn)行真正意義上的聯(lián)合多技術(shù)分析，從而為微電子、超薄薄膜,、納米技術(shù)開發(fā)以及許多其他應(yīng)用進(jìn)一步取得進(jìn)展釋放潛能,。

Thermo Scientific™ Nexsa™ X射線光電子能譜儀具有分析靈活性，可大限度地發(fā)現(xiàn)材料潛能,。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時(shí)，以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性,，從而實(shí)現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測和高通量,。

標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能： 

 ·絕緣體分析

 ·高性能XPS性能

 ·深度剖析

 ·多技術(shù)聯(lián)合

 ·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴(kuò)展

 ·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊

 ·用于儀器控制,、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生產(chǎn)的 Avantage 軟件

 ·小束斑分析

可選的升級：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中,。式自動運(yùn)行

·ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息,，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息,。

·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導(dǎo)體材料的價(jià)帶能級結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息

·拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息

·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構(gòu)和帶隙信息

SnapMap

X射線光電子能譜儀借助 SnapMap 的光學(xué)視圖，聚焦于樣品特征,。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域,，同時(shí)生成*聚焦的 XPS 圖像，以進(jìn)一步設(shè)置您的實(shí)驗(yàn),。

1.X 射線照射樣品上的一個(gè)小區(qū)域,。

2.收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀

3.隨著樣品臺的移動，不斷收集元素圖譜

4.在整個(gè)數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測樣品臺位置,，這些位置的圖譜成像用來生成 SnapMap 

應(yīng)用領(lǐng)域 

·電池

·生物醫(yī)藥

·催化劑

·陶瓷

·玻璃涂層

·石墨烯

·金屬和氧化物

·納米材料

·OLED

·聚合物

·半導(dǎo)體

·太陽能電池

· 薄膜