工藝過程成像探頭系統(tǒng)高光譜儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 深圳黎華分析儀器有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/3/4 14:28:44
- 訪問次數(shù) 597
產品標簽
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成像方式 | 三維 | 工作原理 | 其他 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 使用狀態(tài) | 機載/地面均可 |
工藝過程成像探頭系統(tǒng)高光譜儀技術指標
- 測量范圍:數(shù)微米到數(shù)毫米(與鏡頭放大倍數(shù),,相機等相關)
- 測量方式:在線測量晶體形態(tài),平均尺寸,,顆粒大小分布
- 測量濃度:可高達50%固體顆粒濃度(與顆粒形狀相關)
- 工作溫度:-10℃ - 120℃
工藝過程成像探頭系統(tǒng)高光譜儀性能特征
- 特殊設計的探頭(相機/鏡頭/光源)可廣泛地適用于許多困難物系(尤其是非透明顆粒物系及高固體濃度),。 探頭具有耐腐蝕性,能夠對ph值1~12范圍內的樣品進行測量,。
- 由于特殊的光源設計,本系統(tǒng)可有效地防止顆粒沉積/粘結于探頭上,。
- 根據(jù)不同物系及客戶要求,本系統(tǒng)可設計不同方案(包括氣體清理系統(tǒng))。
- 強大的圖像處理功能可實現(xiàn)顆粒多尺度分割, 計算顆粒形狀參數(shù) (主元素分析和傅立葉變換),聚類分析和定量產品/過程控制,。