化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)成像設(shè)備>CCD相機(jī)/影像CCD>HJ-M2400 便攜式EL檢測儀江蘇*新款輕巧設(shè)備
HJ-M2400 便攜式EL檢測儀江蘇*新款輕巧設(shè)備
參考價(jià) | ¥ 40000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 江蘇華晶新能源有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) HJ-M2400
- 產(chǎn)地 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2019/2/22 10:30:04
- 訪問次數(shù) 223
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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便攜式EL檢測設(shè)備HJ-M2400
● 產(chǎn)品詳情
產(chǎn)品名稱:便攜式EL測試儀
產(chǎn)品型號(hào):HJ-M2400
產(chǎn)品應(yīng)用:用于光伏電站現(xiàn)場運(yùn)維檢測,、電站工程商來料組件缺陷檢測等,。
● 產(chǎn)品特點(diǎn)
1、產(chǎn)品體量小,、輕便,、結(jié)構(gòu)簡單、安裝方便,。
2,、可在平板電腦、電腦或手機(jī)端安排測試APP后進(jìn)行一鍵式快速拍照,。
3,、自動(dòng)對(duì)焦,WIFI傳輸,。
4,、2400萬高像素,缺陷檢測圖像清晰,、放大后細(xì)節(jié)處*展現(xiàn),、一目了然。
● 產(chǎn)品功能
用于檢測組件(太陽能板)內(nèi)部各種缺陷:斷柵,、隱裂,、破片、碎片,、虛焊,、燒結(jié)網(wǎng)紋、黑芯,、黑邊,、混檔、低效率片,、邊緣過刻,、PID、衰減,、熱斑衰減等,。
● 產(chǎn)品參數(shù)
分辨率:2400萬像素
成像時(shí)間:1~30秒
測試周期:20秒
相機(jī)品牌:尼康(索尼芯片)
檢測缺陷:工藝污染、材料缺陷,、隱裂,、碎片、斷柵,、缺焊,、低效率片等
拍照方式:相機(jī),、平板
檢測對(duì)象:太陽能電池組件
檢測對(duì)象大小:2000×1000mm
測試電流/電壓:0~10A/0~60V
帳篷尺寸:2200×1850×1300mm
設(shè)備工作環(huán)境:﹣15℃~﹢40℃(溫度)20%~60%(濕度)
設(shè)備放置環(huán)境:﹣15℃~﹢40℃(溫度)5%~85%(濕度)
便攜式EL檢測儀是一款專注于檢測光伏電站及移動(dòng)式組件標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備,,在白天夜晚均可準(zhǔn)確檢測出光伏太陽能板內(nèi)部質(zhì)量缺陷問題,,包括:斷柵、隱裂,、破片,、碎片、虛焊,、燒結(jié)網(wǎng)紋,、黑芯、黑邊,、混檔,、低效率片、邊緣過刻,、PID,、衰減,、熱斑衰減等參數(shù),攜帶方便,,操作簡單,。
檢測對(duì)象:
單組件檢測 支架上組件測試 室內(nèi)組件測試
室外組件測試 燈光下組件測試 白天組件測試
晶硅組件測試 薄膜組件測試 CIGS組件測試
弱電流測試:
高電流測試 6~10A 高電流隱裂缺陷測試
低電流測試 0.1~5A 弱電流衰減測試(可進(jìn)行0.1A檢測成像)