FPD/LSI檢查顯微鏡 ECLIPSE L300ND,、L300N和L200ND、L200N

這一系列的顯微鏡是檢查硅片,、顯示屏等大型樣品的理想選擇,。

用于檢查大型樣品的高級顯微鏡

采用尼康CFI60-2光學系統(tǒng)設計，成像清晰,；可搭配數(shù)碼相機,。

尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)

用于硅片（L200N系列為200mm，L300N系列為300mm）,、分劃板和其它大型平板類電子零部件的光學檢查,。

尼康CFI60-2光學系列

尼康的創(chuàng)新設計，支持實現(xiàn)清晰的,、高對比度的明場,、暗場,、熒光、偏光（POL）,、微分干涉（DIC）鏡檢,，以及雙光束干涉測量。

尼康Digital Sight數(shù)碼相機

尼康全系列Digital Sight數(shù)碼相機都能高效地進行拍照,，并可將當前在用物鏡,、倍率轉換設置和照明光亮度等參數(shù)一起傳送到NIS-Elements顯微鏡圖像處理軟件中。

L200N與NWL200聯(lián)合使用

在半導體行業(yè)中得到廣泛認可和信任,，目前有許多裝置在使用,。

產(chǎn)品亮點

尼康CFI60-2光學系統(tǒng)

尼康的創(chuàng)新設計光學系統(tǒng)成像清晰，支持多種顯微鏡鏡檢,。

反射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場,、暗場、偏光（POL）,、微分干涉（DIC）,、熒光和雙光束干涉；

多種鏡檢方式

透射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場,、暗場,、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差,。

數(shù)字化智能通信

顯微鏡通過USB與尼康NIS Elements軟件相連,，可檢查并控制物鏡轉換、照明亮度,、光闌動作等,。

人體工學設計

使用傾角可調(diào)的目鏡筒，可使操作者更為舒適地觀察樣品,，消除疲勞,。

主要用于觀察原材料、半導體和工業(yè)零部件,。

核心功能

行業(yè)

主要用途集中在電子通訊領域的零部件檢查,，如硅片、液晶顯示屏等,。反射熒光*可用來有效地檢查光刻膠殘留,，檢查有機EL顯示屏。

*僅L300N/L300ND/L200ND

技術規(guī)格：