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TI 980 布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月,是國家高新技術(shù)企業(yè),,廣州科技小巨人企業(yè),,并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌(股權(quán)代碼:892081),通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系,,擁有近30項國家磚利,。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域,自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測量儀,,拉曼光譜儀,,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,,陣列式紫外可見分光光度計,,積分球式透反射率測試儀等。具備光學(xué)設(shè)計,、機(jī)械設(shè)計,、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學(xué),、廣州大學(xué),、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系,并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長期實習(xí)基地,。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平,,未來面向市場。

前臺.jpg

貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件,,“Touch the future”作為我們的口號,,貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo),為科學(xué)家提供有力的科研工具,。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,,陪伴科學(xué)家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,,例如:日本Hitachi,,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,,一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù),。

 

我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè),更貼心的服務(wù),。

我們的優(yōu)勢和專注點集中于材料測試方面,,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務(wù),,其中包括材料的結(jié)構(gòu),、元素分布、表面特征,、物理化學(xué)特性以及光學(xué),、電學(xué)特性的分析。

材料分析領(lǐng)域代理品牌:

OXFORD(牛津),、FEI(賽默飛),、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE,、AMETEK(阿美特克),、TESCAN(泰思肯)、LEICA,、KRUSS,、BEL、HITACHI(日立),、OTO(中國臺灣超微光學(xué))、WITec(威泰克),、BRUKER(布魯克),、普析、徠卡,、本原納米等,。

 

 

 

 

 

接觸角測量儀、在線測厚儀,、光學(xué)膜厚儀,、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀,、拉曼電鏡,、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力,、納米壓痕劃痕儀,、橢偏儀、熱分析,、差示掃描熱儀

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價格區(qū)間 面議

布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)

*進(jìn)的Performech® II控制模塊和電子設(shè)計

高性能的高速閉環(huán)控制業(yè)界前者的噪音控制

集成的帶輸入/輸出信號的多參數(shù)控制五百倍于前代產(chǎn)品的力學(xué)測試速度

多維度測量耦合

充分優(yōu)化各個傳感器的特質(zhì)適用不同測量需要,,通過多維傳感器的選擇實現(xiàn)

不同測量間的無縫耦合多種有效的測試模塊配置,,包括納米/微米壓痕、納米劃痕,、納米摩擦磨損,、高分辨原位掃描探針顯微鏡成像、動態(tài)納米壓痕和高速力學(xué)性能成像等,。

豐富的系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析軟件

TriboScan(TM) 10提供了創(chuàng)新性的控制功能,,包括XPM超快納米壓痕,SPM+原位掃描探針顯微鏡成像,,動態(tài)表面搜索,,全自動系統(tǒng)校準(zhǔn)和創(chuàng)新的測試程序。

Tribo iQ (TM)提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理,、分析和畫圖功能,,并具有可編程數(shù)據(jù)分析模塊和自動生成的定制測試報告功能。

極大的靈活性和具有前瞻性的表征潛質(zhì)

布魯克納米壓痕儀Ti 980提供了多級別的防護(hù)罩提供了*環(huán)境隔絕能力,,并具有用于將來的升級可擴(kuò)展接口萬能樣品臺提供了機(jī)械,、磁性和真空固定方式,適用于各種樣品,。

始終處于材料研究和開發(fā)的前沿

海思創(chuàng)從1992年起就在范圍內(nèi)處于納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的前進(jìn)位置,。通過與研究人員和工程師的持續(xù)合作,布魯克理解您的*需求,,通過創(chuàng)新的技術(shù)幫助您解決當(dāng)下和將來面臨的材料挑戰(zhàn),。海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter是這些努力的集大成者。它提供了的性能,,能滿足您持續(xù)更新的材料表征需求,。

簡潔、高速的自動控制——系統(tǒng)自動校正使得每次測試都無懈可擊

針尖面積函數(shù)自動校正

傳感器自動校正

壓針和光學(xué)系統(tǒng)校正

自動測試程序

快速,、多樣品自動測試功能實現(xiàn)高通量表征

智能化自動程序確保用戶選擇合適的針尖

高分辨多尺度成像結(jié)合全尺寸樣品的光學(xué)搜索,,極大簡化測試流程

低的噪音水平,實現(xiàn)真正納米尺度表征

從微米到幾個納米的多尺度測量納牛級別的力噪音水平和小于90%原子直徑的位移測量能力,,實現(xiàn)幾乎任何材料的定量表征

系統(tǒng)可實現(xiàn)超過6個數(shù)量級的力測量和10個數(shù)量級的位移測量

力和位移噪音水平保證在客戶現(xiàn)場安裝時實現(xiàn)

快的反饋控制速率

布魯克納米壓痕儀Ti 980精確控制測試過程實現(xiàn)大精度,、可信度和重復(fù)性的真正定量納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征特殊的力和位移反饋控制方法用于海思創(chuàng)的傳感器-專門針對海思創(chuàng)傳感器物理特性開發(fā)的力與位移反饋控制算法每隔0.013毫秒實現(xiàn)一次完整反饋控制,使得系統(tǒng)能測量快速瞬態(tài)過程,,并對其作出反饋,,真正實現(xiàn)用戶的測試意圖-每隔0.013毫秒實現(xiàn)一次完整的感知-分析-控制的循環(huán),使得系統(tǒng)能對瞬態(tài)過程進(jìn)行測量與反饋,,以此重現(xiàn)用戶定義的測試方式

布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)

強(qiáng)大的測試模塊配置,,大化您的表征潛能

自下而上的*進(jìn)設(shè)計提供了世界zui xian jin的納米力學(xué)測試系統(tǒng)

實現(xiàn)豐富的潛在測試能力

Performech®  II高級控制模塊

精確控制納米力學(xué)測試過程

業(yè)界前進(jìn)的力和位移噪音水平實現(xiàn)高的測量精度和重復(fù)性超快反饋控制算法提供整個測試過程的精確控制專為各種不同測試而開發(fā)的一整套高性能傳感器

多達(dá)24個通道的數(shù)據(jù)采集能力,每個通道都能同時達(dá)到1.2MHz采樣率

多個測試頭的耦合——一整套傳感器適用于各種測試任務(wù)

任意兩個測頭之間無縫連接

標(biāo)配二維傳感器和nanoDMA III傳感器實現(xiàn)系統(tǒng)的多種測試功能和高性能

多種有效的測試模塊配置

納米壓痕:硬度,模量,,蠕變,,應(yīng)力弛豫,斷裂韌性,、高速力學(xué)性能成像

納米摩擦:薄膜結(jié)合力,,摩擦系數(shù),抗劃擦性能,,磨損

掃描探針顯微鏡成像:形貌和梯度成像,,納米級別定位精度,摩擦

力成像動態(tài)納米壓痕:隨著深度連續(xù)測量硬度和模量,,存儲模量,,損失模量,損耗角正切



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