貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS
- 公司名稱 廣州貝拓科學技術(shù)有限公司
- 品牌 貝拓科學
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/7/18 13:14:21
- 訪問次數(shù) 2270
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領(lǐng)域 | 化工,能源,印刷包裝,紡織皮革,汽車 |
貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS
儀器介紹
TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理,,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,,探頭同位接收反射光線,。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度,。測量范圍1nm-3mm,,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,,還可以測量n和k值,。
貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS
產(chǎn)品特點
快速,、準確、無損,、靈活,、易用、性價比高
應用領(lǐng)域
半導體(SiO2/SiNx,、光刻膠,、MEMS,SOI等)
LCD/TFT/PDP(液晶盒厚,、聚亞酰胺ITO等)
LED (SiO2,、光刻膠ITO等)
觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)
汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)
技術(shù)參數(shù)
型號 | TF200-VIS | TF200-EXR | TF200-DUV | TF200-XNIR |
波長范圍 | 380-1050nm | 380-1700nm | 190-1100nm | 900-1700nm |
厚度范圍 | 50nm-40um | 50nm-300um | 1nm-30um | 10um-3mm |
準確度1 | 2nm | 2nm | 1nm | 10nm |
精度 | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 3nm |
入射角 | 90℃ | 90℃ | 90℃ | 90℃ |
樣品材料 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 |
測量模式 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
光斑尺寸2 | 2mm | 2mm | 2mm | 2mm |
是否能在線 | 是 | 是 | 是 | 是 |
掃描選擇 | XY可選 | XY可選 | XY可選 | XY可選 |
注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者,。
2.可選微光斑附件,。