一、公司簡介

      Phi Optics有限公司于2009年由光學(xué)博士和材料科學(xué)研究博士在美國成立,，公司為應(yīng)對市場需求致力于開發(fā)量化相差成像設(shè)備,。基于其量化相差成像平臺,，Phi Optics公司正在開發(fā)下一代光學(xué)成像系統(tǒng),，Phi optics平臺的目標(biāo)是在多變的縱向市場與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡競爭，在大量保護證書及Phi Optics的不斷開發(fā)的支持下,，公司主要針對生命科學(xué),、醫(yī)學(xué)診斷及納米技術(shù)，半導(dǎo)體技術(shù)等開發(fā)應(yīng)用,。

Phi Optics技術(shù)平臺采用標(biāo)準(zhǔn)工具及處理過程,，綜合傳統(tǒng)可調(diào)光學(xué)顯微鏡的性能（例如熒光，DIC,，相差等）與實時3D斷層掃描量化相差成像于一體,，其整合性對于那些要求低成本,，快速，準(zhǔn)確量化納米材料的應(yīng)用提供了一個非常突出的優(yōu)勢,。目前該系統(tǒng)在全世界專機200臺以上,，發(fā)布文獻(xiàn)無數(shù)。

二,、空間光干涉量化成像分析系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

空間光干涉量化成像分析系統(tǒng)  技術(shù)原理

Phi Optics SLIM技術(shù)將相襯顯微技術(shù)和全息成像術(shù)整合為一體,，是一款非侵入式的空間光成像技術(shù)；采用*的四波橫向剪切干涉檢測技術(shù),，利用空間非相干光源的白光成像,，參照光與照射光都通過樣本，不受光源極性變化影響,，保證更好的橫向分辨率,，無光漂白影響，無需染色,，避免光毒性,，直接通過將樣本中的光程差并將其轉(zhuǎn)化成厚度，干物質(zhì)面積濃度和折射率圖,。Phi Optics的SLIM工具能加載所有主要品牌的相差顯微鏡上（放大倍數(shù)從10x-100x）,，通過C接口連接，并使用顯微鏡的白光做光源,。應(yīng)用空間光干涉度量法對細(xì)胞結(jié)構(gòu)及動態(tài)性檢測,，非常靈敏。