TST300W55 高低溫沖擊試驗(yàn)箱
- 公司名稱 廣州精秀熱工設(shè)備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 TST300W55
- 產(chǎn)地 廣州市荔灣區(qū)海龍街龍溪蟠龍村32號王枝塘工業(yè)區(qū)K棟之三
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2018/12/15 15:42:30
- 訪問次數(shù) 238
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環(huán)境試驗(yàn)箱,整車氣密性試驗(yàn)臺(tái),氣密性檢測儀,氙燈老化試驗(yàn)箱,步入式恒溫恒濕房,高低溫濕熱試驗(yàn)箱,低氣壓試驗(yàn)箱,三綜合試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。本箱用來測試復(fù)合材料及材料結(jié)構(gòu),,在瞬間下經(jīng)及高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,即以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,。此設(shè)備所應(yīng)用的行業(yè)非常廣泛,,基本上有關(guān)工業(yè)產(chǎn)品都有用到,涉及的行業(yè)數(shù)不勝數(shù),,所以當(dāng)試驗(yàn)箱面對不同規(guī)格大小不一的樣品時(shí),,廣州精秀熱工設(shè)備有限公司也可以不同的變化設(shè)計(jì)出合適的尺寸及規(guī)格為顧客非標(biāo)專業(yè)定制服務(wù)。本設(shè)備適用的對象包括金屬,、塑料,、橡膠、電子...等材料,,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考,。
技術(shù)參數(shù):
型號:TST70W65/100W65/200W55/300W55
標(biāo)稱容積:70/110/200/300 (L)
試驗(yàn)方式:氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式
高溫室性能:預(yù)熱上限溫度(+200℃)
高溫室升溫速率:(+70℃→+200℃≤20min)
低溫室性能:預(yù)冷下限溫度(-75℃)
低溫室降溫速率:(+70℃→-150℃≤80min)
試驗(yàn)室溫度偏差:±2.0℃
試驗(yàn)室高溫沖擊范圍:(+70℃→+150℃)
試驗(yàn)室低溫沖擊范圍:(-10℃→-55℃)
試驗(yàn)室溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min
試樣籃高低溫室轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10s
試樣擱架承載能力:30kg
試樣重量:7.5kg/10kg
樣品籃有效內(nèi)部尺寸(mm):410*460*370 / 650*460*370 / 650*460*670 / 970*460*670
外部尺寸(mm):1470*1850*1870 / 1710*1850*1870 / 1710*1850*1870 / 2030*1850*1870
使用環(huán)境:(溫度:5~35℃,相對濕度:≤85%RH,,大氣壓力:86~106KPa)
外殼材料:雙面鍍鋅鋼板,,表面噴塑處理
頂蓋材料:不銹鋼板SUS304
絕熱材料:硬質(zhì)聚氨脂+玻璃纖維棉
試驗(yàn)箱構(gòu)成:高溫室、低溫室,、驅(qū)動(dòng)裝置,、制冷機(jī)組
控制器:7寸 800*400點(diǎn)陣TFT彩色LCD顯示屏
控制器運(yùn)行方式:定值方式
控制器設(shè)定方式:觸摸式(電壓)
設(shè)定范圍:根據(jù)設(shè)備的工作溫度范圍調(diào)整(上限+5℃,下限-5℃)
試驗(yàn)室設(shè)定范圍:(沖擊上限+220℃,,沖擊下限:-80℃)
控制方式:抗積分飽和PID,,BTC配合調(diào)溫控制方式
電源:AC380V±10% 50HZ±10% 三相四線+保護(hù)地線
功率(kW):36/38/40/42
重量(kg):1400/1450/1500/1550
冷卻循環(huán)水:(水溫≤30;水壓:0.4~0.7MPa)
壓縮空氣:0.4~0.7MPa
安全裝置:漏電保護(hù)器,、箱內(nèi)超溫保護(hù)器,、風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)器、壓縮機(jī)超壓,、壓縮機(jī)過熱保護(hù),、樣品超溫保護(hù)、卻相機(jī)相序保護(hù)
高低溫沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及執(zhí)行方法:
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,;
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT),;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT),;
GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn),;
GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn);
GJB/T 150.5-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn),。
應(yīng)用案例:
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