• 分析含量：ppm到99.9%
• 溫度適應(yīng)范圍：15℃至30℃
• 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
• 樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
• 分析范圍：同時可以分析30種以上元素，五層鍍層
• 移動平臺：精密二維動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動,，實現(xiàn)三維移動。

X射線無損鍍層厚度測試儀基本原理

X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息,，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識,，對每一種化學(xué)元素的原子來說,，都有其特定的能級結(jié)構(gòu),，其核外電子都以其*的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,，成為自由電子,，這時原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài),。此時,，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷,，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量,。

由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,，稱之為特征X射線,。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在,，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量,。

X射線無損鍍層厚度測試儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩(wěn)定性高
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg

天瑞電鍍層測厚儀器X-ray 光譜法：

適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au）,，銀（Ag）,，錫（Sn），銅（Cu）,，鎳（Ni）,，鉻（Cr）等金屬元素厚度。

本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系,，或同時測量三層組分的厚度和成分,。

鍍層厚度分析儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼,、鐵,、銀、鎳,。此種方法測量精度高,。

2.渦流測厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低,。

3.超聲波測厚法

目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合,。但一般價格昂貴,，測量精度也不高。

4.電解測厚法

此方法有別于以上三種,，不屬于無損檢測,，需要破壞涂鍍層,。一般精度也不高。測量起來較其他幾種麻煩,。

5.放射測厚法

此種儀器價格昂貴,，適用于一些特殊場合。