高精度晶振測試儀

1．概述

CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術(shù)，實現(xiàn)了智能化測量,。本系列儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù)實現(xiàn)等精度測量,。它測量精度高，靈敏度高,，速度快,，閘門時間可選；具有頻率測量,、周期測量,、PPM測量、分檔測量,、上下限測量,、累加計數(shù)等功能；中心頻率（標稱頻率）F₀,、分檔值P_r1～P_r8(ppm) ,、上限頻率F_U、下限頻率F_L可任意設(shè)定并能存儲,。該機前置電路有低通濾波器,、衰減器等。特別適合晶體行業(yè),、郵電,、通信、廣播電視,、學(xué)校,、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。

2．主要特征

2．1 本機采用倒數(shù)計數(shù)技術(shù),，測量精度高,，測量范圍寬，真正實現(xiàn)等精度測量,，測量速度快,，靈敏度高,。

2．2 采用單片微機技術(shù)進行周期頻率測量和智能化管理，使得儀器具有很高的可靠性和優(yōu)良的性能／價格比,。

2．3 整機采用大規(guī)模集成電路設(shè)計,，CPLD器件的運用，使儀器元器件大為減少,，可靠性有了很大的提高,，平均*工作時間≥10000h。

·     整機外型美觀大方,，體積小,，重量輕，使用方便,。

3．技術(shù)參數(shù)

3.1 測量范圍

·     頻率測量：A通道:1Hz～100MHz,；

B通道:100MHz～1.6GHz(選件)

·     周期測量：A通道:10ns～1s

·     PPM測量：-9999～9999ppm

·     上、下限測量：可根據(jù)用戶所設(shè)定的上限參數(shù)F_U,、下限參數(shù)F_L來測量被測頻率是否超出上,、下限，超限則報警,。

·     分檔測量：根據(jù)用戶所設(shè)定的中心頻率F₀自動進行分檔測量,。 分檔值：P_r1～P_r8可在1～999ppm之間任意設(shè)置

分檔檔數(shù)：以中心頻率F₀為中點左右分成16檔

·     累加計數(shù)：計數(shù)容量：0～10⁹－1 (選件)

計數(shù)方式：鍵控、門控或外門控可選,。

3.2 輸入特性

·     輸入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω

3.2.2 輸入耦合方式：AC

3.2.3 波形適應(yīng)性：正弦波,、脈沖波

·     輸入電壓動態(tài)范圍:

A通道：30mVrms～250Vp～p

B通道: 30mVrms～1Vrms

3.2.5 A通道低通濾波器：－3dB 帶寬約100kHz

3.2.6 A通道衰減：×1或×20

3.3 測量誤差

3.3.1 頻率或周期測量誤差：±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

100ns

其中：LSD＝─────×被測頻率（或被測周期）

閘門時間

觸發(fā)誤差：當(dāng)被測信號的信噪比為40dB時，觸發(fā)誤差≤0.3%

·     PPM測量誤差：±時基誤差±觸發(fā)誤差±LSD

其中：LSD＝(100ns/閘門時間)×10⁶ppm

例如：閘門時間=1s時 LSD＝0.1ppm

閘門時間=0.1s時 LSD＝1ppm

3.3.3 計數(shù)誤差：±1

3.4閘門時間

固定閘門：10ms,、100ms,、1s、10s 四檔可選,；

可調(diào)閘門：50ms～95ms 分10檔,，每檔間隔5ms。

3.5 晶體振蕩器

標稱頻率：10MHz

頻率穩(wěn)定度：5×10^-6/d

（可根據(jù)用戶需求,，選配更高量級的晶振,。

如：1×10^-6/d、5×10^-7/d,、1×10^-7/d等）,。

3.6 外頻標輸入

輸入頻率：10MHz

輸入幅度：>1Vp～p 正弦波

3.7 顯示

13位0.4吋綠色高亮數(shù)碼管，三個單位LED指示燈（MHz,、kHz,、Hz），一個閘門LED指示燈(GATE),，一個外頻標LED指示燈(EXT)和一個PPM單位指示燈（PPM）,。

3.8 電源

電壓：交流220V±10%

頻率：50Hz±5%

功耗：<8VA

3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)

3.10 質(zhì)量：<1.5kg

晶振測試盒選配：

晶體測量匹配器：

1Hz    32.768KHZ-20MHz （標配）

20MHz-40MHz ,

40MHz-65MHz

65MHz-100MHz .