SZ-ZKD-3 真空度測試儀
- 公司名稱 山東桑澤儀器儀表有限公司
- 品牌 TESTO/德國德圖
- 型號 SZ-ZKD-3
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2018/10/10 11:34:44
- 訪問次數(shù) 2355
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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量程 | 100-10-6pambar |
隨著我國配電系統(tǒng)“無油化”改造的順利實(shí)施,,真空斷路的使用日趨普及。真空滅弧室作為真空斷路器的核心部件,,真空壓強(qiáng),,直接影響真空滅弧室的性能,為保證滅弧室的可靠工作,,我國部標(biāo)(JB)技術(shù)中規(guī)定其真空壓強(qiáng)的允許最大值為1.33×10-2pa國標(biāo)(GB)中為6.6×10-2pa,。盡管現(xiàn)代電真空技術(shù)已能保證它們有10年及至20年的真空壽命。但是由于我國目前的生產(chǎn)條件和工藝水平,,沿不能*保證生產(chǎn)的真空滅弧室不漏氣,。同時(shí)我國現(xiàn)有真空滅弧室觸頭材料大多采用cucr,雖然cr的吸氣性強(qiáng),,但當(dāng)采用傳統(tǒng)的粉末冶金法來制備cucr材料時(shí),,材料的含氣量還是比較高的。另外,,由于制造時(shí)焊接工藝的質(zhì)量或運(yùn)輸過程中,,受震動或安裝操作上的不當(dāng)?shù)仍颍斐陕獾目赡苄砸彩谴嬖诘摹R虼?,真空滅弧室制成出廠以后,,并不能永遠(yuǎn)維持真空的壓強(qiáng),而是有一定的真空壽命,。隨著時(shí)間的增加,,滅弧室的真空度將降低。經(jīng)過嚴(yán)格電真空工藝處理的真空滅弧室,,影響真空度的主要因素為工作表面的放氣與吸氣過程,。隨著工作時(shí)間的增長,滅弧室的微漏氣也會導(dǎo)致其真空度下降,。使絕緣和開斷性能降低,,發(fā)展到一定程度,真空斷路器將喪失其工作能力,。滅弧室真空狀況直接影響電力系統(tǒng)運(yùn)行的安全性,。因此,對服役真空滅弧室真空度測定尤為重要,。
SZ-ZKD-3型真空度測試儀是一套計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng),,它采用*的磁控放電技術(shù),并利用*的單片機(jī)技術(shù),,配以專業(yè)設(shè)計(jì)的勵磁線圈,,實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場不拆卸實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集處理和微機(jī)同步監(jiān)視,測量精度高,、數(shù)字化顯示,、操作簡單,、使用維護(hù)方便,、檢測過程僅二十秒左右,為用戶掌握真空滅弧室真空狀態(tài),,有計(jì)劃的更換滅弧室提供了可靠依據(jù),。對電網(wǎng)的安全運(yùn)行提供了有力的保障。
SZ-ZKD-3型真空度測試儀測試原理:
將滅弧室的兩觸頭拉開一定的開距,,施加脈沖高壓,,將新型電磁線圈環(huán)繞于滅弧室外側(cè),向線圈通以大電流,,從而在滅弧室內(nèi)產(chǎn)生與高壓同步的脈沖強(qiáng)磁場和強(qiáng)電場的作用下,,滅弧室中的電子做螺旋運(yùn)動,并與殘余氣體分子發(fā)生碰撞電離,,所產(chǎn)生的離子電流與殘余氣體密度即真空度近似成比例關(guān)系,。對于不同的真空管型號(管型),由于其結(jié)構(gòu)不同,在同等觸頭開距,、同等真空度,、同等電場與磁場的條件下,離子電流間的對應(yīng)關(guān)系曲線,。當(dāng)測知離子電流后,,就可以通過查詢管型的離子電流一真空度曲線獲得該管型的真空度。這一過程由計(jì)算機(jī)自動完成,。
性能指標(biāo):
1,、適用范圍:各種型號、電壓等級及材料真空管
2,、開關(guān)天距:正常使用開距
3,、檢驗(yàn)范圍:100-10-6pa
4、測量精度:優(yōu)于5%
5,、使用環(huán)境:-20℃-+40℃
6,、主機(jī)重量:7㎏
7、外型尺寸:380×280×250(mm)
技術(shù)參數(shù):
1,、供電電壓:AC220V±10% 50Hz±1
2,、脈沖高壓輸出:15KV
3、磁場電壓輸出:1200V