機(jī)臺型號：ZJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀?

ZJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)特性：

Q 值測量范圍:2 ～ 1023,量程分檔：30,、100﹑300﹑1000,，自動換檔或手動換檔

固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差:≤ 7 ％±滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍: 4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍: 1 ～ 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz

頻率分段（虛擬）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字

硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角

正切值的測定方法

警告：使用本標(biāo)準(zhǔn)的人員應(yīng)有正規(guī)實驗室工作的實踐經(jīng)驗。本標(biāo)準(zhǔn)并未指出所有可能的安全問題,。使用者有責(zé)任采取適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?，并保證符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定的條件。

1,、范圍：

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的兩種測定方法,。方法A為工頻（50Hz）下的測定方法，方法B為高頻電場下的測定方法,。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于硫化橡膠,。

2、規(guī)范性引用文件：

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款,。凡是注日期的引用文件,，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而,，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本,。凡是不注日期的引用文件，其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn),。

GB/T 2941 橡膠物理試驗方法試樣制備和調(diào)節(jié)通用程序（GB/T 2941-2006,，ISO 23529：2004，IDT）

3,、術(shù)語和定義：

下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn),。

3.1

介質(zhì)損耗 dielectric loss

絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),，在其內(nèi)部引起的能量損耗,。

3.2

損耗角 δloss angleδ

在交變電場下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數(shù)角φ）的余角（δ）,。

3.3

損耗角正切 tanδ loss tangentδ

介質(zhì)損耗因數(shù) dielectric loss factor

介質(zhì)損耗角正切值,。

3.4

介電常數(shù) εdielectric constant

絕緣材料在電場作用下產(chǎn)生極化，電容器極板間有電介質(zhì)存在時的電容量C,、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C₀之比,。

注：不同試樣、不同電極的真空電容和邊緣校正的計算參見附錄A,。

4,、測試電極：

4.1 電極材料

見表1。

表 1 電極材料

4.2 電極尺寸

4.2.1 板狀試樣電極

4.2.1.1 方法A：板狀電極尺寸見表2,，電極如圖1所示。

表 2 板狀試樣電極尺寸 單位為毫米

1——測量電極,；

2——保護(hù)電源,；

3——試樣；

4——高壓電極,。

圖 1 板狀試樣電極配置（工頻）

4.2.1.2 方法B：采用二電極系統(tǒng),。電極尺寸大小與試樣尺寸相等，或電極小于試樣尺寸,。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm,、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm,。

4.2.2 管狀試樣電極

4.2.2.1 方法A：管狀試樣電極尺寸見表3,，電極如圖2所示。

表 3 管狀試樣電極尺寸

1——保護(hù)電極,；

2——測量電極,；

3——高壓電極；

4——試樣,。

圖 2 管狀試樣電極配置（工頻）

4.2.2.2 方法B：管狀試樣電極尺寸,，電極如圖3所示。

管狀試樣的電極長度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm,。

1——試樣,；

2——上電極；

3——下電極,。

圖 3 管狀試樣電極配置（高頻）

4.3 電極裝置

在進(jìn)行高頻測試時,，根據(jù)測試頻率與測試要求可用支架電極（如圖4）,，當(dāng)頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時,，宜用測微電極（如圖5）；當(dāng)頻率大于或等于10MHz時,，應(yīng)用測微電極,。

1——上蓋螺釘,；

2——上蓋板；

3——升降螺桿,；

4——上電極導(dǎo)軌,；

5——螺帽；

6——導(dǎo)筒,；

7——導(dǎo)槽螺釘,；

8——絕緣桿；

9——高壓電極,；

10——試樣,；

11——測量電極；

12——保護(hù)電極,；

13——絕緣板（聚四氟乙烯板）,；

14——絕緣支腳；

15——有機(jī)玻璃板,。

圖 4 支架電極

1——微調(diào)管形電容器,；

2——測試樣品電容器；

3——上支撐板,；

4——上電極,；

5——試樣；

6——下電極,；

7——底板,。

圖 5 測微電極

5、測試儀器：

5.1 方法A

5.1.1 測試儀器為工頻高壓電橋,，其原理圖如圖6所示,。

T  試驗變壓器；

C₃  標(biāo)準(zhǔn)電容器,；

C₅  試樣,；

R₃  可變電阻；

C₂,、C₄ 可變電容,；

R₄  固定電阻；

G-  電橋平衡指示器,；

P  放電器,。

圖 6 工頻高壓電橋原理圖

5.1.2 測量范圍

損耗角正切（tanδ）：0.001～1；電容（C）：40pF～2000pF,。

5.1.3 電橋測量誤差

測量時誤差不超過10%,，當(dāng)試樣tanδ小于0.001時測量誤差不超過0.0001，電容的測量誤差不超過5%,，標(biāo)準(zhǔn)電容器的tanδ應(yīng)小于0.0001,。

5.1.4 電橋必須有良好的屏蔽接地裝置,。

5.2 方法B

5.2.1 方法B的測試儀器有兩種：一種是諧振升高法（Q表），另一種時變電鈉法,。

5.2.1.1 諧振升高法（Q表）

其測試原理圖如圖7所示,。

A  電流表；

R₀  耦合電阻,；

L  輔助線圈,；

C  標(biāo)準(zhǔn)電容；

C₀  試樣,；

V,、V₁ 電壓表（用Q值表示）。

圖 7 Q表原理圖

5.2.1.1.1 測量范圍

頻率為50Hz～50MHz,，電容40pF～500pF,，Q值10～600。

5.2.1.1.2 測量誤差

電容誤差：±（0.5%C+0.1pF）,，Q值±10%,；有關(guān)儀器的測量誤差均為±10%。

5.2.1.2 變電鈉法

其測試原理如圖8所示,。

C——可調(diào)電容,；

L——諧振線圈；

C_T——管形微調(diào)電容,；

C_u——主電容,；

C_x——試樣。

圖 8 高頻介質(zhì)損耗儀原理圖

6,、試樣：

6.1 試樣尺寸

6.1.1 方法A試樣尺寸見表4,。

表 4 試樣尺寸 單位為毫米

6.1.2 方法B試樣尺寸見表5。

表 5 試樣尺寸 單位為毫米

6.2 試樣的制備

試樣的制備應(yīng)符合GB/T 2941的規(guī)定,，也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉(zhuǎn)刀進(jìn)行裁切,，制樣方法的不同，其試驗結(jié)果無可比性,。

6.3 試樣數(shù)量

試樣的數(shù)量不少于3個,。

7、硫化與試驗之間的時間間隔：

試樣在硫化與試驗之間的時間間隔按GB/T2941的規(guī)定執(zhí)行,。

8,、試驗條件：

8.1 試樣表面應(yīng)清潔、平滑，無裂紋,、氣泡和雜質(zhì)等，試樣表面應(yīng)用蘸有無水乙醇的布擦洗,。

8.2 試樣應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)實驗室溫度及濕度下至少調(diào)節(jié)24h,。

8.3當(dāng)試樣處理有特殊要求時，可按其產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的進(jìn)行,。

9,、試驗步驟：

9.1 方法A

9.1.1 試驗電壓為1000V～3000V，一般情況下為1000V,，電源頻率為50Hz,。

9.1.2 按設(shè)備說明書正確的連接。

9.1.3 接通電源預(yù)熱30min,。

9.1.4 將試樣接人電橋C,、的橋臂中，加上試驗電壓,，根據(jù)電橋使用方法進(jìn)行平衡,，讀取R3和tanδ或C4的值。

9.2 方法B—諧振升高法（Q表法）

9.2.1 按照Q表的操作規(guī)程調(diào)整儀器,，選定測量頻率,，測定C1和Q1的值。

9.2.2 將試樣放入測試電極中,，并調(diào)節(jié)電容器C,，使電路諧振，達(dá)到最大Q值記下調(diào)諧電容量C2和Q2的值,。

9.2.3 將試樣從測試電極中取出,，調(diào)節(jié)C或測試電極的距離，使電路重新諧振,，記下C,、或測試電極的校正電容值與Q值，并根據(jù)測試值計算出損耗角tanδ與介電常數(shù)ε,。

9.2.4 其他高頻測試儀器按其說明書進(jìn)行操作,，通過測試值計算出損耗角tanδ和介電常數(shù)ε。

10,、試驗結(jié)果：

10.1 方法A

10.1.1 介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）可在電橋上直接讀數(shù),，按式（1）進(jìn)行計算：

tanδ=2πfR₄C₄×10^-6…………………………（1）

式中：

π——3.14；

f——頻率50Hz,；

R₄——固定電阻阻值,，單位為歐姆（Ω）；

C₄——可變電容值,，單位為微法（μF）,；

10.1.2 介電常數(shù)（ε）的計算見表6,。

表 6 介電常數(shù)的計算

10.2 方法B

10.2.1 電容的計算

10.2.1.1 諧振升高法

應(yīng)用支架電極時按式（7）計算：

C_x=C₁-C₂+C_a…………………………………（7）

應(yīng)用測微電極時按式（8）計算：

C_x=C’₁-C’₂+C_a……………………………（8）

10.2.1.2 變電納法（配用測微電極）：

按式（9）、式（10）計算：

C_x=C₁-C₂+C_a…………………………………（9）

其中：C_a= …………………………（10）

當(dāng)電極直徑為38mm時,，則Ca=1/d

式中：

Cx——試樣的并聯(lián)等值電容,，單位為皮法（pF）；

C₁——電極間距為試樣厚度d,，且無試樣時諧振電容量,，單位為皮法（pF）；

C₂——有試樣時諧振電容量,，單位為皮法（pF）,；

C'₁——極的校正電容值，單位為皮法（pF）,；

C'——有試樣時,，測微電極間距等于試樣厚度時，測微電極的校正電容值,，單位為皮法（pF）,；

C——試樣的幾何電容量，單位為皮法（pF）；

S——電極面積單位為平方厘米（cm²）,；

d——試樣厚度,，單位為厘米（cm）。

10.2.2 介電常數(shù)ε的計算

按式（11）計算：

………………………（11）

式中：

C_x——試樣的并聯(lián)等值電容,，單位為皮法（pF）,；

d——試樣的厚度，單位為厘米（cm）,；

D——電極的直徑，單位為厘米（cm）,。

10.2.3介質(zhì)損耗角正切tanδ值的計算

10.2.3.1諧振升高法（Q表法）按式（12）計算：

……………………（12）

10.2.3.2 變電納法：各種高頻損耗測試儀配用測微電極使用時按式（I3）計算：

………………………（13）

式中：

C’——無電極時,，諧振回路標(biāo)準(zhǔn)電容器指示值單位為皮法（pF）；

Q₁——無試樣時,，電極間距為d時,，諧振Q值；

Q₂——電極間有試樣時的諧振Q值,；

△C_i—有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,，微調(diào)電容變化量，單位為皮法（pF）,；

△C₀——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時,，微調(diào)電容變化量，單位為皮法（pF）,；

C_x——試樣的并聯(lián)等值電容,，單位為皮法（pF）。

10.2.4 管狀試樣測試結(jié)果計算

10.2.4.1 試樣電容量按式（14）計算：

C_x=C₁-C₂…………………………（14）

式中：

C₁——無試樣時,，諧振電容量,；

C₂——有試樣時，諧振電容量,。

10.2.4.2試樣介電常數(shù)按式（15）式（16）計算：

…………………………（15）

其中：…………………（16）

式中：

L——電極長度,，單位為厘米（cm）；

D₁,、D₂——管外徑和內(nèi)徑,，單位為厘米（cm）。

10.2.4.3 損耗角正切值的計算

與Q表接線柱直接連線時按式（17）計算：

………………………（17）

當(dāng)高頻介質(zhì)損耗角測試儀與測微電極連接時按式（l8）計算：

………………………（18）

式中：

C1,、Q1——無試樣時,，諧振電容量及Q值；

C2,、Q2——有試樣時,，諧振電容量及Q值；

△Ci——有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時，微調(diào)電容變化量,，單位為皮法（pF）,；

△C0——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時，微調(diào)電容變化量,，單位為皮法（pF）,。

注：不同試驗環(huán)境對試驗結(jié)果的影響因素參見附錄B。

10.3 試驗結(jié)果以每組試驗結(jié)果的中位數(shù)表示,，取兩位有效數(shù)字,。

11、介電常數(shù)測試儀試驗報告：

介電常數(shù)測試儀試驗報告應(yīng)包括以下內(nèi)容：

a） 介電常數(shù)測試儀試樣編號,；

b） 本標(biāo)準(zhǔn)編號或本標(biāo)準(zhǔn)名稱,；

c） 介電常數(shù)測試儀試驗結(jié)果

d） 實驗室溫度、濕度,；

e） 介電常數(shù)測試儀試樣的規(guī)格,；

f） 測元件及電極尺寸；

g） 試樣和測試條件的調(diào)節(jié),；

h） 介電常數(shù)測試儀測量方法和測量電路,；

i） 介電常數(shù)測試儀試驗電壓及頻率；

j） 試驗者,；

k） 試驗日期,。