Axio Imager偏光顯微鏡

程序簡便,、操作可靠

您是否正在尋找一款能夠完成復雜任務,、生成可靠檢測結果且易于操作的顯微鏡？那么用于偏光顯微觀察的智能型 Axio Imager 將是您的滿意之選,。

不同種主機架可供選擇

編碼型,、部分電動型或全電動型主機組合搭配，滿足您的個性化需求,。

自動組件識別技術值得信賴

自動組件識別（Automatic Component Recognition ACR）技術,，使您方便的使用顯微鏡設置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡,。此外,，ACR 技術還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統(tǒng)能自動對組件的變換進行登記,。

無振動設計確?？煽康拈L時間成像

借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實現(xiàn)可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉盤,、z 軸升降臺和載物臺被設計為一個緊湊式無振動單元,，獨立于主機架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結構設計能夠創(chuàng)建理想的測量條件,，以獲得超高質量的觀測結果,。

擴展功能令操作更舒適

簡化復雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件,。

保存?zhèn)€性化設置并實現(xiàn)一鍵還原,。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學設計的觸控式按鈕,。

或者通過任意擺放的控制面板（可*與主機架分離）來操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設置,，以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測結果,。

錐光觀察技術：使用偏光顯微鏡可以實現(xiàn)快速可靠的晶體結構分析

偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體,、十字準線和可變光闌同時可見,。通過調節(jié)型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關,。這一特性讓您在不同技術之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時,。

始終如一的測量性能

借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可以輕松實現(xiàn)測量,，（例如：用于測量礦物的解理角）

光程差測定或應變測量

大量光譜補償器可選,，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。

固定光程差的補償器

全波片 λ

四分之一波片 λ / 4

全波片 λ,，可旋轉角度 +/- 8°

具有可變光程差的補償器

光楔補償器 0-4 λ

測量補償器

- Berek 傾斜補償器 0-5 λ

- Berek 傾斜補償器 0-30 λ

Axio Imager 還可提供更多方法,，例如：

熱顯微技術

使用蔡司 AxioVision 軟件進行數字分析（例如：晶粒度分析或顆粒度分析）